[发明专利]一种超分辨荧光光谱成像显微镜在审
申请号: | 201410842654.9 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104597590A | 公开(公告)日: | 2015-05-06 |
发明(设计)人: | 郑炜;陈龙超 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G02B21/36 | 分类号: | G02B21/36;G02B21/00;G01N21/64 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 分辨 荧光 光谱 成像 显微镜 | ||
1.一种超分辨荧光光谱成像显微镜,用于对样品进行显微成像,其特征在于,所述超分辨荧光光谱成像显微镜包括激光发射器、双色镜、分光镜、图像控制器和光谱仪,所述激光发射器发射激发光至所述双色镜,所述双色镜将所述激发光反射至所述样品,以激发样品的荧光团发出荧光,所述荧光具有荧光信号以及激发光的杂散信号,所述双色镜透过所述样品的荧光至所述分光镜,所述分光镜将所述荧光分为第一束光路和第二束光路,所述第一束光路和所述第二束光路均具有所述荧光的荧光信号与激发光杂散信号,所述第一束光路发射至所述图像控制器,以采集所述荧光的强度信息,所述第二束光路发射至所述光谱仪,以分析所述荧光的光谱信息,并根据所述光谱信息区分所述荧光信号和所述杂散信号。
2.根据权利要求1所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述超分辨荧光光谱成像显微镜包括第一扫描组件和第二扫描组件,
所述第一扫描组件包括第一振镜,所述第一振镜接收所述双色镜反射的激发光,并反射激发光至所述样品,所述第一振镜还接收所述样品的荧光,并反射所述荧光至所述双色镜;
所述第二扫描组件包括第二振镜,所述第二振镜将所述第一束光路扫描至所述图像控制器。
3.根据权利要求2所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述第一扫描组件还包括第一物镜,所述第一物镜将所述激发光聚焦于所述样品上。
4.根据权利要求3所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述第一扫描组件还包括第一组合透镜,所述第一组合透镜位于所述第一振镜和所述第一物镜之间,以改变所述激发光的光斑半径。
5.根据权利要求2所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述第二扫描组件还包括第二组合透镜,所述第二组合透镜透过所述第二振镜的出射光,并将其聚焦至所述图像控制器。
6.根据权利要求1任意一项所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述超分辨荧光光谱成像显微镜还包括第二物镜、针孔和第三物镜,所述第二物镜将透过所述双色镜的荧光聚焦于所述针孔上,所述针孔透过所述荧光,并发射所述荧光至所述第三物镜,所述第三物镜将所述荧光恢复呈平行光束,并将所述平行光束发射至所述分光镜。
7.根据权利要求1所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述超分辨荧光光谱成像显微镜还包括光学衰减片,所述光学衰减片将所述激光发射器发射的激发光衰减后,发射至所述双色镜。
8.根据权利要求1所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述超分辨荧光光谱成像显微镜还包括滤光片,所述滤光片将透过所述双色镜的荧光过滤后,发射至所述分光镜。
9.根据权利要求1所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述光谱仪设有采集所述第二路光束的接收端,所述超分辨荧光光谱成像显微镜还包括第四物镜,所述第四物镜将所述第二路光束聚集于所述接收端。
10.根据权利要求9所述的超分辨荧光光谱成像显微镜,其特征在于,所述光谱仪设置有光纤,所述接收端设置于所述光纤上。
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