[发明专利]一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置在审
申请号: | 201410843174.4 | 申请日: | 2014-12-25 |
公开(公告)号: | CN104483553A | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
发明(设计)人: | 袁书传;郑军奇;叶琼瑜;曹旸 | 申请(专利权)人: | 上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 翁若莹 |
地址: | 200043 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电磁 屏蔽 材料 射频 阻抗 测试 装置 | ||
1.一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:包括螺杆(3),螺杆(3)顶部设有旋转手柄(1),螺杆(3)下部外侧设有屏蔽外罩(10),轴承(7)固定在螺杆(3)上且设于屏蔽外罩(10)内侧,压力传感器(9)连接在轴承(7)上;
上屏蔽腔体(12)与屏蔽外罩(10)底部连接,下屏蔽腔体(13)与上屏蔽腔体(12)固定,上、下屏蔽腔体之间的屏蔽腔内设有上金属压接片(15)和下金属压接片(16),上金属压接片(15)通过塑料连接轴(11)与压力传感器(9)连接;
待测试的电磁屏蔽材料设于上、下金属压接片之间,固定在上屏蔽腔体(12)上的上测试探针(14)通过电缆与固定在屏蔽外罩(10)上的转接头(8)连接,转接头(8)另一端通过电缆与用于读取射频阻抗值的测试仪器连接,测试仪器通过电缆与下测试探针(17)连接,下测试探针(17)穿透下金属压接片(16)与上金属压接片(15)接触。
2.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述螺杆(3)上设有用于观察位移量的标尺(2)。
3.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述螺杆(3)上设有用于防止所述旋转手柄(1)无限往下旋的下限位块。
4.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述螺杆(3)与屏蔽外罩(10)之间设有用于限制螺杆(3)活动区域的螺杆固定块(5)。
5.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述屏蔽外罩(10)上设有手把(6)。
6.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述下屏蔽腔体(13)通过搭扣与上屏蔽腔体(12)固定。
7.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述上、下金属压接片的材质为铜。
8.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述下屏蔽腔体(13)底部设有下探针固定装置(18),所述下测试探针(17)设于下探针固定装置(18)上。
9.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述塑料连接轴(11)穿过所述上屏蔽腔体(12)与所述压力传感器(9)连接。
10.如权利要求1所述的一种电磁屏蔽材料的射频阻抗测试装置,其特征在于:所述下屏蔽腔体(13)底部设有支撑脚(19)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院,未经上海电器科学研究所(集团)有限公司;上海电器科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410843174.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。