[发明专利]双站底部测试分光机在审
申请号: | 201410843653.6 | 申请日: | 2014-12-30 |
公开(公告)号: | CN104438136A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 赵玉涛 | 申请(专利权)人: | 深圳市炫硕光电科技有限公司 |
主分类号: | B07C5/342 | 分类号: | B07C5/342;B07C5/36 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 底部 测试 分光 | ||
技术领域
本发明涉及机械领域,特别涉及一种双站底部测试分光机。
背景技术
分光机是通过对LED发出光的波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类筛选的机器,其工作原理是由圆形振动盘与平行振动轨道负责送料,通过吸咀将LED送至转盘,经由测试站量测光电特性之后,系统会根据量测仪器的测试结果,(主要包括波长(颜色)、光强、电流电压大小进行分类)通过分料机构将LED送至所属落料盒。
发明内容
本发明提供了一种结构简单、成本低、可进行两站测试的双站底部测试分光机。
为解决上述问题,作为本发明的一个方面,提供了一种双站底部测试分光机,包括:振动盘、抓料机构、第一定位机构、第一底部测试机构、第二定位机构、第二底部测试机构、分度盘机构、吹料机构;振动盘将物料输送至平轨定位处,然后抓料机构将物料通过其吸嘴抓取后,放入分度盘机构的入料口;分度盘机构转动从而将物料运送至第一定位机构处,第一定位机构将物料定位后,由第一底部测试机构对物料进行第一站测试,然后由分度盘机构将物料运送至第二定位机构处,由第二底部测试机构对物料进行第二站测试,最后,由分度盘机构将物料运动至吹料机构处,吹料机构将物料吹入下料软管中。
由于采用了上述结构,本发明具有结构简单、成本低、可进行两站测试的特点。
附图说明
图1示意性地示出了本发明的结构示意图。
图中附图标记:1、振动盘;2、抓料机构;3、第一定位机构;4、第一底部测试机构;5、第二定位机构;6、第二底部测试机构;7、分度盘机构;8、吹料机构。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明,但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
请参考图1,本发明提供了一种双站底部测试分光机,包括:振动盘1、抓料机构2、第一定位机构3、第一底部测试机构4、第二定位机构5、第二底部测试机构6、分度盘机构7、吹料机构8;振动盘1将物料输送至平轨定位处,然后抓料机构2将物料通过其吸嘴抓取后,放入分度盘机构7的入料口;分度盘机构7转动从而将物料运送至第一定位机构3处,第一定位机构3将物料定位后,由第一底部测试机构4对物料进行第一站测试,然后由分度盘机构7将物料运送至第二定位机构5处,由第二底部测试机构6对物料进行第二站测试,最后,由分度盘机构7将物料运动至吹料机构8处,吹料机构8将物料吹入下料软管中。
特别地,本发明中的振动盘1、抓料机构2、第一定位机构3、第一底部测试机构4、第二定位机构5、第二底部测试机构6、分度盘机构7、吹料机构8等,均可采用现有技术中本领域已知的相应结构实现,在此不再赘述。
由于采用了上述结构,本发明具有结构简单、成本低、可进行两站测试的特点。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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