[发明专利]一种磁卡解码方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及解码领域，特别是涉及一种磁卡解码方法及装置。

背景技术

传统的磁卡软解码方案是主要有两类：一类是使用磁卡专用芯片，由专用芯片识别刷卡信号，然后将逻辑数据发给MCU；另一类是使用一些通用电路，对磁卡原始信号放大整形，然后由MCU对整形后的磁卡数据软解码，转换成二进制数据。

上述现有技术存在以下技术问题：

1、放大整形电路或专用磁卡解码芯片的硬件成本相对较高；

2、通用电路对磁卡的刷卡速度有限制，过快或者过慢都会影响刷卡成功率，并且MCU对磁卡数据软解码的效率低，实时性差，抗噪能力低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：提供一种实时性能高且抗噪能力强的磁卡解码方法及装置。

为了解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：提供一种磁卡解码方法，包括以下步骤：

S1、采用移动比较窗口峰值检测法将采样到的刷卡模拟波形转换成脉宽序列；

S2、将所述脉宽序列转换成二进制序列码，其中长脉宽转换成逻辑0，两个连续的短脉宽转换成逻辑1；

S3、根据解码标准将二进制序列码转换成字符序列；

其中，步骤S1具体包括：

S101、设置比较窗口初始的低阈值lt和高阈值ht，所述比较窗口的大小delta为ht-lt；

S102、判断当前采样点是否在比较窗口的当前范围内，若否，则转步骤S103，若是，则采集下一采样点并重复步骤S102直至刷卡结束；

S103、判断当前采样点是否大于当前比较窗口的高阈值，若是，则向上移动所述窗口，移动的距离为当前采样点-当前比较窗口的高阈值，若否，则向下移动所述窗口，移动的距离为前比较窗口的低阈值-当前采样点；

S104、分析所述比较窗口的移动过程，若比较窗口上移后又相继下移，则判定比较窗口上移时所对应的采样点为正峰值；若比较窗口下移后又相继上移，则判定比较窗口下移时所对应的采样点为负峰值；

S105、根据所述正峰值或负峰值记录当前采样点的脉宽，所述脉宽为两个相邻的峰值之间的宽度，采集下一采样点并重复步骤S102直至最后一采样点，得到模拟波形的脉宽序列。

为解决上述技术问题，本发明提供的另一技术方案为：

一种磁卡解码装置，包括波形转换单元、脉宽转换单元和解码单元；

所述波形转换单元用于采用移动比较窗口峰值检测法将采样到的刷卡模拟波形转换成脉宽序列；

所述脉宽转换单元用于将所述脉宽序列转换成二进制序列码，其中长脉宽转换成逻辑0，两个连续的短脉宽转换成逻辑1；

所述解码单元用于根据解码标准将二进制序列码转换成字符序列；

其中，所述解码单元包括设置模块、第一判断模块、第二判断模块、分析模块和记录模块；

所述设置模块用于设置比较窗口初始的低阈值lt和高阈值ht，所述比较窗口的大小delta为ht-lt；

所述第一判断模块用于判断当前采样点是否在比较窗口的当前范围内，若否，则调用第二判断模块，若是，则采集下一采样点并重复第一判断模块直至刷卡结束；

所述第二判断模块用于判断当前采样点是否大于当前比较窗口的高阈值，若是，则向上移动所述窗口，移动的距离为当前采样点-当前比较窗口的高阈值，若否，则向下移动所述窗口，移动的距离为前比较窗口的低阈值-当前采样点；

所述分析模块用于分析所述比较窗口的移动过程，若比较窗口上移后又相继下移，则判定比较窗口上移时所对应的采样点为正峰值；若比较窗口下移后又相继上移，则判定比较窗口下移时所对应的采样点为负峰值；

所述记录模块用于根据所述正峰值或负峰值记录当前采样点的脉宽，所述脉宽为两个相邻的峰值之间的宽度，采集下一采样点并重复调动第一判断模块直至最后一采样点，得到模拟波形的脉宽序列。

本发明的有益效果在于：区别于现有技术中磁卡解码方法硬件成本高，通用电路对磁卡的刷卡速度有限制，MCU对磁卡数据软解码的效率低，实时性差，抗噪能力低，本发明提供一种磁卡解码方法，采集的是离散时间的磁卡模拟波形，并采用移动比较窗口峰值检测法将采样到的刷卡模拟波形转换成脉宽序列，从而大大减小了获取脉宽序列的计算复杂度，明显提高了MCU对磁卡数据软解码的效率，本方法实时性好，抗噪能力强。