[发明专利]气体中颗粒物质量浓度及元素成分双射线自动检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及气态流体中的物质检测领域，具体来说，涉及一种气体中颗粒物质量浓度及元素成分双射线自动检测方法。

背景技术

目前针对气态流体检测领域，现有技术包括对气态流体内颗粒物质量进行检测、对颗粒物内重金属元素进行检测。对颗粒物质量进行检测的方法包括β射线法、振荡天平法、光散射法等；对颗粒物中重金属元素进行检测的方法包括X射线荧光法、电感耦合等离子体发射光谱法、原子荧光法等。

但是相关技术均为一次只能完成一个项目的测试，即一次只能测量颗粒物质量或者只能测量颗粒物内重金属质量。无法同时对颗粒物质量及内部重金属元素质量同时进行测试，无法测量颗粒物中元素所占百分比。

发明内容

有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。本发明提供了一种气体中颗粒物质量浓度及元素成分双射线自动检测方法，包括：

使用自动清洁滤纸运送装置将滤纸移送至固定安装在基座的beta射线检测装置检测处，停留，进行颗粒物的富集以形成待检测样，同时进行颗粒物浓度检测或待富集结束后由触发信号触发后进行颗粒物浓度检测，所述beta射线检测装置测试完毕后，所述自动清洁滤纸运送装置将待检测样移送至安装在所述基座上的X射线检测装置检测处，进行重金属浓度检测；待重金属浓度检测结束后，所述自动清洁滤纸运送装置重复进行下一次清洁滤纸运送动作，清洁滤纸运送动作的重复性由自动控制或人工控制，所述自动控制为周期性或预先设定。

根据本发明背景技术中对现有技术所述，目前对气态流体中物质的检测均是单一功能进行检测，每种项目的检测都需要使用特定的设备进行检测，同时也不具有周期性在线的检测方法和设备，不仅在使用成本昂贵，同时操作起来也非常麻烦，并且在进行测量时耗费的时间也非常大；而本发明提供的气体中颗粒物质量浓度及元素成分双射线自动检测方法，通过将beta射线检测装置及X射线检测装置利用自动化方法进行集成，实现在线周期性测量，不仅可以降低使用成本，并且操作也极其简单，通过重复性时间设置，实现无人值守操作，同时在测量过程中，避免了重复测量，减少了时间的损耗，大大提升了效率；进而利用两个测量结果可以得出重金属在颗粒物中的比例，从而得到气态流体可能的来源，对判断各种气候状态、污染状态等都具有很大的帮助。

另外，根据本发明公开的气体中颗粒物质量浓度及元素成分双射线自动检测方法还具有如下附加技术特征：

进一步地，所述检测方法还包括，所述自动清洁滤纸运送装置具有驱动滤纸盘和被动滤纸盘，滤纸安装在所述被动滤纸盘上，所述驱动滤纸盘由动力源带动转动并带动所述被动滤纸盘，进而带动滤纸经过所述beta射线检测装置检测处及所述X射线检测装置检测处，并进而卷至入所述驱动滤纸盘上。

进一步地，所述检测方法还包括：

进行颗粒物浓度检测时，首先测试滤纸自身的颗粒物富集浓度A_空白，在富集过程结束后，测试滤纸上样品的颗粒物富集浓度A_总，得出结果A_样品=A_总-A_空白。

更进一步地，其特征在于，所述富集过程时间为5min到24h之间。

优选地，所述富集过程时间为周期性重复。

进一步地，所述检测方法还包括：进行重金属浓度检测时，首先测试滤纸自身的重金属浓度B_空白，在富集过程结束后，测试滤纸上样品的颗粒物富集浓度B_总，得出结果B_样品=B_总-B_空白。

进一步地，所述滤纸为不含重金属的滤纸。

如果滤纸为不含重金属的滤纸，则B_空白为0，可以进一步简化运算过程。

更进一步地，所述滤纸为带支撑层的PTEE滤膜。

PTFE滤膜不仅无重金属元素，而且对动力学直径0.3微米以上颗粒物截留率在99.7%以上，因此在使用上效果更好。

进一步地，所述检测方法包括控制系统，所述控制系统控制所述自动清洁滤纸运送装置的滤纸运送动作、所述所述beta射线检测装置检测动作以及所述X射线检测装置检测动作。

更进一步地，所述控制系统为计算机系统或单片机系统或ASIC芯片。

当今技术的发展日新月异，计算机系统的使用相对变得更加复杂，单片机系统虽然简单，但功能上还有些单一，在联接使用上还是存在一些不便之处，而ASIC芯片，不仅功能也更加强大，同时在程序固化上更加简便，能够实现特定功能的特定固化电路，使用更加简洁。