[发明专利]一种对位设备及其对位方法有效

专利信息
申请号: 201410844035.3 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN104460069B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 王州平 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 对位 设备 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种对位设备,所述对位设备应用于偏光片的对位,其特征在于,所述对位设备包括:角度调整装置,所述角度调整装置设置为:根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整;

所述对位设备还包括:位置调整装置,所述位置调整装置具体设置为:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整;

在所述偏光片的对位过程中,以所述待对位偏光片上任意点或设定的点为基准进行位置对位之后,确认是否还存在角度偏移,如果存在所述角度偏移则以所述任意点或设定的点为轴心进行旋转针对存在的所述角度偏移进行角度调整,使所述角度偏移量为零,实现位置上和角度上都准确对位。

2.根据权利要求1所述的对位设备,其特征在于,角度调整装置包括角度获取装置和角度补偿装置,其中:

所述角度获取装置设置为:获取所述角度偏移量;

所述角度补偿装置设置为:根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。

3.根据权利要求2所述的对位设备,其特征在于,所述角度获取装置包括:检偏器、光强检测装置和偏移角度确认装置,其中:

所述检偏器包含检偏偏光片;所述光强检测装置设置为:对既透过所述待对位偏光片又透过所述检偏偏光片的光线的强度进行检测;

所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。

4.根据权利要求3所述的对位设备,其特征在于,所述偏移角度确认装置根据预先存储的所述光线强度与所述角度偏移量之间的映射关系数据,确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。

5.根据权利要求3所述的对位设备,其特征在于,所述偏移角度确认装置设置为:根据光强检测装置检测到的光线强度,确认所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向之间的夹角,并根据预先存储的所述夹角与所述角度偏移量之间的映射关系数据确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。

6.根据权利要求5所述的对位设备,其特征在于,

所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的吸收轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的吸收轴方向;

或,所述待对位偏光片的光轴方向为所述待对位偏光片的透过轴方向,所述检偏偏光片的光轴方向为所述检偏偏光片的透过轴方向。

7.根据权利要求3或5所述的对位设备,其特征在于,

所述角度获取装置还包括第一旋转装置,所述第一旋转装置设置为:对所述检偏偏光片进行旋转;

所述偏移角度确认装置是设置为:在所述第一旋转装置对所述检偏偏光片进行旋转的过程中,当检测的光线强度出现峰值时,根据所述检偏偏光片的光轴方向与所述待对位偏光片的光轴方向的夹角确认所述待对位偏光片的所述角度偏移量。

8.根据权利要求2所述的对位设备,其特征在于,

所述预定的旋转轴心为所述待对位偏光片的中心点。

9.一种对位方法,应用于偏光片的对位中,其特征在于,所述方法包括:

根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整;

所述方法还包括:在所述待对位偏光片所在平面内,在相互垂直的X方向和Y方向上利用所述待对位偏光片上的对位标识对所述待对位偏光片进行位置调整;

在所述偏光片的对位过程中,以所述待对位偏光片上任意点或设定的点为基准进行位置对位之后,确认是否还存在角度偏移,如果存在所述角度偏移则以所述任意点或设定的点为轴心进行旋转针对存在的所述角度偏移进行角度调整,使所述角度偏移量为零,实现位置上和角度上都准确对位。

10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据待对位偏光片在所述待对位偏光片所在平面内的角度偏移量,对所述待对位偏光片进行角度调整,包括:

获取所述角度偏移量;

根据所述角度偏移量,以预定的旋转轴心对所述待对位偏光片进行旋转调整,以减小所述角度偏移量。

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