[发明专利]变压器有载分接开关特性测试装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及变压器有载分接开关测试领域，特别涉及一种变压器有载分接开关特性测试装置及系统。

背景技术

目前对变压器有载分接开关特性进行测试的测试方法有：

1)直流测试法：直流测试法优点在于能测出变压器有载分接开关过度电阻、过度时间等具体参数且可以根据得到的参数与铭牌数据进行对比，作为测试的重要依据。缺点在于直流源测试过程中易受变压器绕组冲击或直流电压太低无法击穿油膜而导致恒流源短时间内断流等情况出现，从而对变压器有载分接开关切换过程中是否接触不良等现象难以给出准确判断。

2)交流测试法：变压器有载分接开关交流测试方法的优点在于交流源和变压器运行条件相近，测试波形数据更能反映变压器有载分接开关在运行中的实际情况，对切换过程中出现接触不良或断线等情况给出准确的判断。缺点在于不能测试出过度电阻、切换时间等铭牌数据。

鉴于直流测试法和交流测试法的测试特点，亟需一种能同时进行交流特性和直流特性的变压器有载分接开关特性测试装置，至少部分减少上述两种测试方法的缺点，优化组合，使测试简便快捷，测试结果更准确全面。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术中所存在的上述不足，提供一种测试简便快捷，测试结果更准确全面的变压器有载分接开关特性测试装置及系统。

为了实现上述发明目的，本发明采用的技术方案是：一种变压器有载分接开关特性测试装置，包括：

交流电压源，用于为变压器有载分接开关提供交流测试信号；

直流恒流源，用于为变压器有载分接开关提供直流测试信号；

信号采集单元，用于采集所述变压器有载分接开关响应所述交流测试信号或直流测试信号后输出的响应信号并输出；

微处理器，用于接收所述信号采集单元输出的所述响应信号，对所述信号响应信号进行分析处理得到所述变压器有载分接开关的测试数据；或，用于接收外部输入的测试指令开始工作对所述信号响应信号进行分析处理得到所述变压器有载分接开关的测试数据并输出上报。

优选的，所述交流电压源和所述直流恒流源是互相完全电气隔离的。

优选的，所述交流电压源输出为三相三线，其三个输出端分别连接与所述变压器的三相分别连接的高电压电容；所述直流恒流源为三相四线输出，其三个输出端分别连接与所述变压器的三相分别连接的二极管；其中，所述二极管的反向截止电压高于2KV。

优选的，所述信号采集单元包括：

直流电压信号采集子单元，用于采集所述变压器有载分接开关响应所述直流测试信号后输出的电压信号；

交流电流信号采集子单元，用于采集所述变压器有载分接开关响应所述交流测试信号后输出的电流信号。

优选的，所述直流电压信号采集子单元包括依次连接的50Hz阻通滤波电路和第一AD采集单元；所述交流电流信号采集子单元包括依次连接的电流传感器和第二AD采集单元；所述第一AD采集单元和第二AD采集单元分别与所述微处理器通信连接。

优选的，所述第一AD采集单元和第二AD采集单元均包括依次连接的20dB前置放大器和带通滤波器，所述带通滤波器的输出端分别连接20dB放大器、40dB放大器、60dB放大器、80dB放大器和对数放大器，所述20dB放大器、40dB放大器、60dB放大器、80dB放大器和对数放大器各自连接一个模数转换AD器件，所述20dB放大器、40dB放大器、60dB放大器、80dB放大器和对数放大器各自连接的模数转换AD器件的输出端连接FPGA模块，所述FPGA模块连接第一CPU。

优选的，还包括显示模块；所述微处理器还用于根据所述变压器有载分接开关的测试数据生成曲线图形；所述显示模块用于将所述曲线图形进行显示。

优选的，所述交流电压源包括CPU，所述CPU的输出端依次连接SPWM控制器、MOSFET控制器、第一滤波电路、升压变压器、第二滤波电路和AC800V输出端口，所述AC800V输出端口还通过电压传感器电连接所述CPU；还包括AC220V输入端口，所述AC220V输入端口依次通过第三滤波电路、整流电路连接到所述MOSFET控制器。

优选的，所述CPU的输入端连接RS4422通信接口。

本发明实施例还提供一种变压器有载分接开关特性测试系统，包括权利要求1-9任一项所述的变压器有载分接开关特性测试装置，用于将所述测试数据输出上报；