[发明专利]一种自动生成测试点的方法有效

专利信息
申请号: 201410847970.5 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104535103A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 何理义;任健胜;胡彬;魏晓锋 申请(专利权)人: 东莞誉铭新工业有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00;G01B21/20
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 刘克宽
地址: 523717 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 自动 生成 测试 方法
【说明书】:

技术领域

 本发明创造涉及测试方法技术领域,具体涉及一种用于电机测量中的自动生成测试点的方法。

背景技术

在模具加工过程中,一般采用电极放电对模具的模面进行精密加工,加工时,电极的放电面对应待加工的模面并进行放电,这就要求电极的放电面的表面精度较高,以实现更好的放电性能和加工效果,进而需要对电极的放电面进行表面测量。现有技术中,一般采用的测量方法是首先在三维建模软件中设计好电极模型,然后打开集成在三维建模软件中的电极测量程序,采用该电极测量程序中的选面功能,手动选取电极模型的放电面,然后采用该电极测量程序中的取测试点功能,手动在选取的放电面上取点,取完测试点后,采用电极测量程序的批量后处理功能生成PC-DIMS软件可识别的后处理程序,再将该后处理程序和IGS格式的电极模型导入到PC-DIMS软件中生成自动测量程序,自动测量程序根据电极模型上的测试点即可驱动机台对机台上的实体电极进行自动测量。上述测量方法虽然能够实现电极的自动测量,但在对电极模型进行取待测量的放电面和在该放电面进行取测试点时,采用的是手动选择待测量的放电面,并在放电面上进行手动取测试点,这种取测试点的方法不仅速度慢、影响整个检测效率,并且容易遗漏待测量放电面的曲面部位,导致测量结果不严谨,测量精度不高,影响产品的质量评估。

发明内容

本发明创造的目的在于针对现有技术中的不足,而提供一种测试效率高、测量精度高的自动生成测试点的方法。 

本发明创造的目的通过以下技术方案实现:

提供一种自动生成测试点的方法,具体步骤包括:选定待测量的电极模型,若电极模型的一面正对模具的模面,且与模具的模面之间的间距不大于预设值A,则取电极模型的该面作为电极的放电面,自动对该放电面进行着色;

电极模型自动生成为prt格式的单体电极;

自动在电极模型上找出单体电极上被着色的放电面,然后分情况执行如下:

在该放电面为平面或斜面的情况下,则设置单位面积上需取测试点的数值为预设值m;

在该放电面为曲面的情况下,若其曲率半径小于n则不取测试点,若其曲率半径大于n则:

如果曲面的面积小于预设值X,就不取测试点;

如果曲面的面积大于预设值X且小于预设值Y,就取一个测试点;

如果曲面的面积大于预设值Y且小于预设值Z,就取两个测试点;

如果曲面的面积大于预设值Z,就取四个测试点。

其中,三维建模时,将电极模型设置为电极层,将模具设置为模仁层,选定电极层和模仁层即可计算电极模型相对于于模具的放电面。

其中,执行实体相同面着色程序计算出电极模型的放电面,并自动对该放电面着色。

其中,执行导出单个单体程序将放电面着色后的电极模型生成格式为prt文档的单体电极。

其中,设置探针的长度和探针的针头直径参数,设定后处理文件的文件类型后,电极测量程序开始对单体电极进行自动取测试点。

其中,后处理文件的文档类型设为PC-DIMS软件可识别文件类型。

其中,执行电极测量程序完成单体电极的自动取测试点后,执行批量后处理程序生成PC-DIMS软件能够识别的文件。

其中,执行导出IGS程序将文档格式为prt的单体电极转换为文件格式为IGS的单体电极。

其中,文件格式为IGS的单体电极和批量后处理程序生成PC-DIMS软件能够识别的文件同时导入PC-DIMS软件中,PC-DIMS软件生成自动测量程序,自动测量程序驱动机台对机台上的实体电极进行自动测量。

其中,在平面或斜面的放电面取测试点时,若两个相邻侧试点之间的间距小于10mm时,则不取测试点。

本发明创造的有益效果:

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