[发明专利]一种基于移位寄存器的STM‑N帧B2校验方法有效
| 申请号： | 201410849732.8 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN104618051B | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 张磊;窦晓光;杨恩山;甯青松;耿雄飞;纪奎;李静 | 申请（专利权）人： | 曙光信息产业（北京）有限公司 |
| 主分类号： | H04J3/16 | 分类号： | H04J3/16;H04L1/00 |
| 代理公司： | 北京安博达知识产权代理有限公司11271 | 代理人： | 徐国文 |
| 地址： | 100193 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 移位寄存器 stm b2 校验 方法 | ||
1.一种基于移位寄存器的STM-N帧B2校验方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：
(1)A移位寄存模块实时检验STM-N帧的64bit并行数据；
(2)B移位寄存模块存储A移位寄存模块的结果，等待与第N+1帧的B2部分比较；
所述步骤(1)的操作步骤如下：
A.初始化B2校验的部分，此区间内时钟使能端为1；
B.STM-N帧的RSOH部分不需要校验，此区间内时钟使能端为0；
C.A移位寄存模块内部存储的所有数据要输出并存储到B移位寄存模块；
D.A移位寄存模块的输入：在B2校验的初始化部分，A移位寄存模块的输入为全0；其余部分，A移位寄存模块的输入为64位STM-N帧的数据与A移位寄存模块的输出进行异或操作产生的64bit数据。
2.根据权利要求1所述STM-N帧B2校验方法，其特征在于，所述步骤(2)的操作步骤如下：
A.把A移位寄存模块的输出数据寄存一周期后输入到B移位寄存模块的输入端；
B.B移位寄存模块的输出端直接与第N+1个STM-N帧的B2部分比较，若每个周期的数据相同，则说明在SDH传输系统中，复用段层的传输是无误码的；反之，则认为出现误码。
3.根据权利要求1所述STM-N帧B2校验方法，其特征在于，所述A移位寄存模块和B移位寄存模块的模块接口信号包括时钟、数据输入、数据输出和时钟使能。
4.根据权利要求1所述STM-N帧B2校验方法，其特征在于，所述STM-N帧的周期数计算方法为：周期数＝9*270*N/M，所述M为系统实现位宽。
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