[发明专利]一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备在审

专利信息
申请号: 201410852063.X 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104535436A 公开(公告)日: 2015-04-22
发明(设计)人: 言兰;姜峰;王宁昌;徐西鹏 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G01N3/24 分类号: G01N3/24;G01N3/06
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 张松亭
地址: 362000*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 超声 振动 微观 尺度 材料 剪切 疲劳 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:包括:被测试试件(5)及与被测试试件(5)发生剪切作用的工具头(7);还包括基座系统、超声振动系统、测力系统和声发射系统;

所述超声振动系统装接在基座系统上;所述工具头(7)固接在超声振动系统上;所述声发射系统装接于工具头(7);所述测力系统装接在基座系统上;所述被测试试件(5)固接在测力系统上;

通过基座系统调节被测试试件(5)与工具头(7)的相对位置;通过超声振动系统使工具头(7)发生振动从而实现工具头(7)与被测试试件(5)间发生剪切作用;通过测力系统检测工具头(7)与被测试试件(5)间力的动态变化;通过声发射系统检测工具头(7)与被测试试件(5)间剪切作用过程中被测试试件(5)达到疲劳破坏时的声发射信号。

2.根据权利要求1所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:

所述基座系统包括光学平板(1),X轴滑台(3),Y轴滑台(2)和Z轴滑台(11);Y轴滑台(2)滑动装接在光学平板(1)上且可沿Y轴方向滑动;X轴滑台(3)滑动装接在Y轴滑台(2)上且可沿X轴方向滑动;Z轴滑台(11)滑动装接在光学平板(1)上且可沿Z轴方向滑动;所述X轴方向、Y轴方向与Z轴方向两两垂直;通过X轴滑台(3)、Y轴滑台(2)和Z轴滑台(11)使被测试试件(5)和工具头(7)可在X轴方向、Y轴方向与Z轴方向上移动从而调节被测试试件(5)与工具头(7)的相对位置;

所述超声振动系统包括超声发生器,超声变幅杆(9)和连接杆(8);超声变幅杆(9)装接在Z轴滑台(11),超声发生器传动连接超声变幅杆(9);连接杆(8)固接在超声变幅杆(9)上;所述工具头(7)固接在连接杆(8)上;通过超声发生器产生超声振动并通过超声变幅杆(9)和连接杆(8)传递至工具头(7)以使工具头(7)发生振动从而实现工具头(7)与被测试试件(5)间发生剪切作用;

所述测力系统包括力传感器(4),第一电荷放大器和第一数据采集卡;力传感器(4)固接在X轴滑台(3)上,该第一电荷放大器信号连接力传感器(4),该第一数据采集卡信号连接第一电荷放大器;所述被测试试件(5)固接在力传感器(4);

所述声发射系统包括声发射传感器,第二电荷放大器和第二数据采集卡;所述声发射传感器装设于工具头(7)内,该第二电荷放大器信号连接声发射传感器,该第二数据采集卡信号连接第二电荷放大器。

3.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述工具头(7)上固设有磨粒(6),该磨粒(6)为压头或滚珠;所述压头为金刚石或立方氮化硼材质,其形状为带圆头的圆锥,圆头半径R=0.008~0.21mm,圆锥角θ=55°~125°;所述滚珠为硬质合金或不锈钢材质。

4.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述被测试试件(5)经过研磨抛光处理以使其表面粗糙度不大于Ra0.1μm,该被测试试件(5)用超声清洗机清洗后固接在力传感器(4)。

5.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述连接杆(8)为带锥度螺钉;所述连接杆(8)螺接在超声变幅杆(9)上。

6.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述X轴滑台(3)由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Y轴滑台(2)由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Z轴滑台(11)由步进电机驱动,其步进精度优于0.35μm。

7.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述力传感器(4)的性能参数为:测力范围为-25N~25N,测力精度高于0.0025N,采样频率高于8KHz;所述声发射传感器的性能参数为:频率范围为48~1010kHz,谐振频率大于78kHz,灵敏度峰值大于65dB;所述超声发生器的性能参数为:振动频率f=18~42KHz,振幅范围为0~22μm。

8.根据权利要求2所述的一种基于超声振动的微观尺度材料剪切疲劳测试设备,其特征在于:所述第一电荷放大器与第二电荷放大器为同一电荷放大器;所述第一数据采集卡与第二数据采集卡为同一数据采集卡。

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