[发明专利]曲线近似平行线计算方法和装置在审
申请号: | 201410852447.1 | 申请日: | 2014-12-31 |
公开(公告)号: | CN104574463A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
发明(设计)人: | 韩建康;毛续飞 | 申请(专利权)人: | 无锡赛思汇智科技有限公司 |
主分类号: | G06T11/20 | 分类号: | G06T11/20 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬;邓猛烈 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区太科*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 曲线 近似 平行线 计算方法 装置 | ||
技术领域
本发明实施例涉及计算机图形学技术领域,尤其涉及一种曲线近似平行线计算方法和装置。
背景技术
在计算机绘图软件和工程制图的实践中,往往需要绘制一条曲线的平行曲线。所述平行曲线又被称为等距曲线,它是由中线上每一点沿该点在法线方向移动相同距离得到的新的点的轨迹。所述平行线与所述原始曲线具有相同的法线,并且所述平型曲线与所述原始曲线上对应点的距离处处相等。
尽管在计算机绘图软件和工程制图中,经常需要绘制曲线的平行曲线。但是现有技术并没有给出绘制平行曲线的有效的方法。因而,在制图实践中,需要制图人员依据原始曲线手工的绘制平型曲线。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提出一种曲线近似平行线计算方法和装置,以自动的绘制平行曲线。
第一方面,本发明实施例提供了一种曲线近似平行线计算方法,所述方法包括:
对原始曲线进行离散化处理,以得到所述原始曲线的至少两个采样点;
根据所述原始曲线上的采样点与相邻采样点之间的位置关系,求所述采样点的两个法线偏置点;
绘制依次通过所有所述采样点两侧所有所述法线偏置点的平滑曲线,生成所述原始曲线的近似平行曲线。
第二方面,本发明实施例提供了一种曲线近似平行线计算装置,所述装置包括:
离散化模块,用于对原始曲线进行离散化处理,以得到所述原始曲线的至少两个采样点;
偏置点获取模块,用于根据所述原始曲线上的采样点与相邻采样点之间的位置关系,求所述采样点的两个法线偏置点;
平行曲线生成模块,用于绘制依次通过所有所述采样点两侧所有所述法线偏置点的平滑曲线,生成所述原始曲线的近似平行曲线。
本发明实施例提供的曲线近似平行线计算方法和装置,通过对原始曲线进行离散化处理,以得到所述原始曲线的至少两个采样点,根据所述原始曲线上的采样点与相邻采样点之间的位置关系,求所述采样点的两个法线偏置点,以及绘制依次通过所有所述采样点两侧所有所述法线偏置点的平滑曲线,生成所述原始曲线的近似平行曲线,从而自动的绘制曲线的平行曲线。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述,本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
图1是本发明第一实施例提供的曲线近似平行线计算方法的流程图;
图2a是本发明第一实施例提供的对原始曲线进行粗粒度离散化后采样点分布的示意图;
图2b是本发明第一实施例提供的对原始曲线进行细粒度离散化后采样点分布的示意图;
图3是本发明第一实施例提供的法线偏置点的坐标确定的示意图;
图4是本发明第一实施例提供的法线偏置点的分布示意图;
图5是本发明第一实施例提供的曲线近似平行线的效果示意图;
图6是本发明第二实施例提供的曲线近似平行线计算方法中离散化操作的流程图;
图7是本发明第三实施例提供的曲线近似平行线计算装置的结构图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。
第一实施例
图1是本发明第一实施例提供的曲线近似平行线计算方法的流程图。所述曲线近似平行线计算方法包括:操作11至操作13。
操作11中,对原始曲线进行离散化处理,以得到所述原始曲线的至少两个采样点。
对所述原始曲线进行离散化处理,就是对所述原始曲线进行不同间距的采样。对所述原始曲线执行的采样处理可以是均匀的采样处理,也可以是非均匀的采样处理。具体的,对所述原始曲线执行的均匀的采样处理是以预设的采样间隔对所述原始曲线进行采样,以得到所述原始曲线的至少两个采样点。所述采样间隔是指空间上的采样间隔。
另外,对所述原始曲线执行的非均匀的采样处理可以是根据所述原始曲线的曲率动态调整采样间隔,然后根据所述动态调整的采样间隔对所述原始曲线进行采样,以得到所述原始曲线的至少两个采样点。
图2a及图2b分别示出了粗粒度的离散化以及细粒度的离散化以后的采样的分布图。参见图2a及图2b,在对所述原始曲线进行离散化以后,得到了在所述原始曲线上的采样点。
操作12中,根据所述原始曲线上的采样点与相邻采样点之间的位置关系,求所述采样点的两个法线偏置点。
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