[发明专利]一种阵列基板及其检测电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地说，涉及一种阵列基板及其检测电路。

背景技术

在传统的显示面板线路设计中，通常会在显示区域的外侧设计有环绕面板的称为短路杆(Shorting Bar)的外围走线，并将扫描线按照奇数(ODD)和偶数(EVEN)分别引出至外围走线，即整个面板上的奇数和偶数扫描线在显示区域的外围各自短接在一起。这种设计是为了在TFT制程的检测环节中，可以通过给奇数和偶数扫描线不同的电讯号来检查显示面板内是否存在短路或断路的情况，配合不同的数据信号还可以检查出其他类型的不良。短路杆(Shorting Bar)在检测后被断开或去除，不会影响到成品的正常显示。

为了改善垂直取向液晶显示器在大视角出现的色偏现象，会采用充电共享(Charge Sharing)的像素设计方案。图1为现有技术中具有短路杆的充电共享阵列基板的线路结构示意图。采用第N+2行充电扫描线(Charge Gate Line)信号来控制第N行电荷共享扫描线(Share Gate Line)的开启和关闭。如果第N行的充电扫描线和电荷共享扫描线之间发生短路，由于第N行的共享扫描线与后面第N+2行的充电扫描线相连，使得二者在顺序上皆为奇数或偶数，那么通过上述奇偶行分别引出短路杆的检测方式并无法在TFT制程段检出上述短路缺陷。只能依靠成盒(Cell)点灯甚至成品检测的方式方能检出，导致产品出现水平扫描线不良，良率降低。

现有技术中还提供一种在短路杆区域设置三条检测线路的阵列基板，如图2所示。检测线路G1、G2和G3依次连接至显示区域中的连续三行充电扫描线，并向三条检测线路依次提供检测信号。这种方案能够检测同一行中充电扫描线和电荷共享扫描线之间的短路缺陷，但检测方式更加复杂、耗时更长。特别是产品批量生产量后，由于各项制程已逐步稳定，上述短路缺陷出现的几率极低，继续采用该方案就会导致检测效率低下，影响产能。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是现有技术中TFT制程阶段检测方式单一，并不能根据产品生产各个时期的良率状况切换检测方式，检测效率较低的缺陷。

为了解决上述技术问题，本申请的实施例首先提供一种阵列基板的检测电路，包括：

检测单元，其包括第一至第六检测线路；

切换信号接入单元，其用于接收切换控制信号；

检测信号接入单元，其用于接收第一或第二检测信号；

切换单元，其包括第一和第二切换线路，所述第一和第二切换线路连接在检测单元、切换信号接入单元和检测信号接入单元之间；

其中，在切换控制信号的控制下，第一切换线路导通，使得第一至第六检测线路分成三组，依次向所述三组检测线路提供第一检测信号，或者

第二切换线路导通，使得第一至第六检测线路分成两组，依次向所述两组检测线路提供第二检测信号。

在一个实施例中，所述第一切换线路包括：

第一控制线，其连接切换信号接入单元；

第一至第六晶体管，其栅极耦接第一控制线，其第一端分别对应耦接第一至第六检测线路；

其中，第一和第四晶体管的第二端均连接至第一信号共享点，第二和第五晶体管的第二端均连接至第二信号共享点，第三和第六晶体管的第二端均连接至第三信号共享点。

在一个实施例中，在第一切换线路导通的情况下，所述三组检测线路分别为第一和第四检测线路、第二和第五检测线路、第三和第六检测线路。

在一个实施例中，所述第二切换线路包括：

第二控制线，其连接切换信号接入单元；

第七至第十二晶体管，其栅极耦接第一控制线，其第一端分别对应耦接第一至第六检测线路；

其中，第七、第九和第十一晶体管的第二端均连接至第四信号共享点，第八、第十和第十二晶体管的第二端均连接至第五信号共享点。

在一个实施例中，在第二切换线路导通的情况下，所述两组检测线路分别为第一、第三和第五检测线路，以及第二、第四和第六检测线路。

在一个实施例中，所述检测信号接入单元包括第一至第三检测点，其中，

第一至第三检测点的第一端分别对应连接第一至第三信号共享点，以向所述三组检测线路依次提供第一检测信号；

第一和第三检测点的第二端分别对应连接第四和第五信号共享点，以向所述两组检测线路依次提供第二检测信号。