[发明专利]用于集成电路的非常低电压和偏置的扫描测试的测试电路有效
| 申请号： | 201410858263.6 | 申请日： | 2014-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN105891703B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 张旺根;丁黄胜;吴建舟 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 金晓 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 非常 电压 偏置 扫描 测试 电路 | ||
【说明书】：
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