[实用新型]一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置有效

专利信息
申请号: 201420013938.2 申请日: 2014-01-10
公开(公告)号: CN203772360U 公开(公告)日: 2014-08-13
发明(设计)人: 张发展;王亚强;张光宇;王素玲;崔郎郎;宋艾江;王坷刚;田鹤;丁建华;王琳;李聪杰 申请(专利权)人: 中信重工机械股份有限公司
主分类号: G01F23/284 分类号: G01F23/284
代理公司: 洛阳公信知识产权事务所(普通合伙) 41120 代理人: 苗强
地址: 471003 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 恶劣 环境 精确 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:在料柱(1)上端连接有与料柱(1)相连通的料位计支承座(2),在料位计支承座(2)的通腔内设有料位计(3),料柱(1)的柱腔内设有用于测量物料料位的料位计(3)的缆式探头,料位计(3)的信号输出端连接显示装置(6)。

2.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的料位计(3)为导波雷达物位计。

3.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的料位计支承座(2)的通腔内设有保护罩(5),保护罩(5)内罩设有料位计(3)。

4.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的料位计支承座(2)内设有缓冲垫板(4),缓冲垫板(4)上设有料位计(3)。

5.如权利要求3所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的保护罩(5)的顶面为斜面。

6.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的料柱(1)和料位计支承座(2)通过螺栓连接。

7.如权利要求1所述的一种可在恶劣环境下精确测量料位的料仓装置,其特征在于:所述的显示装置(6)为计算机或中控显示仪。

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