[实用新型]一种用于光电检测的精确定位结构

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于光电检测的精确定位结构，属于光电检测技术领域。

背景技术

目前，在进行光电比色检测时，样品采用直插式。在光学结构设计时预留样品进入插槽，此插槽一般紧贴光学结构中用来密封光源以及探测器的透明表面。样品插入后，样品的被测表面能够紧贴此透明表面，减小整体光路的光程。此种设计存在的最大的间题是，每次样品插入插槽时，样品的被测表面就会与光学结构中的透明表面发生摩擦，每次都会造成此表面磨损，这种磨损必然会带来测量结果的偏差。另外的一种方式是将插槽设计的位置距离密封用的透明表面一段距离，这样避免了每次样品插入时与透明表面的摩擦，但是此设计增加了光路结构的光程，由朗伯体发光特性知道，其光强与距离成反比例关系，所以这种设计无疑减小了信号的强度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于光电检测的精确定位结构，以便能够使得样品插入时不会与密封光路结构的透明表面发生磨损，同时样品的被测面能够紧贴光路，使得光程不增加；样品插入插槽后，样品的被测区域会被精确定位到光学窗口处。

为了实现上述目的，本实用新型的技术方案如下。

一种用于光电检测的精确定位结构，包括下板和上板，其中，上板侧面上固定设置有连接柱，下板和上板之间采用连接柱相连接，下板中间部位设置有遮光板，遮光板中间设置有光学窗口，遮光板的侧面分别设置有第一定位凹槽、第二定位凹槽和第三定位凹槽；下板的侧面两端位置分别设置有第一插销和第二插销；上板中间部位设置有样品插槽，样品插槽的侧面分别设置有第一定位凸槽、第二定位凸槽和第三定位凸槽，上板侧面上固定设置的连接柱的两端分别设置有第一插孔和第二插孔。

进一步地，第一定位凹槽、第二定位凹槽和第三定位凹槽分别与第一定位凸槽、第二定位凸槽和第三定位凸槽相契合。

进一步地，第一插销、第二插销分别与第一插孔、第二插孔相配合。

该实用新型装置中，下板和上板采用同轴连接方式联结，并设置有凸槽和凹槽，利用其上的定位面精确控制下板和上板的相对位置。下板为安装光学结构的部件，其中，遮光板下部有封闭光源、探测器以及相应电路，光学窗口为透明的光学窗口。下板和上板装配后，向上揭开上板，样品由样品插槽插入，然后合上上板，上板能够和下板达到完全契合状态，样品能够紧贴遮光板表面，同时样品的反应区被定位到光学窗口处。

该实用新型的有益效果在于：本实用新型装置能够使得样品不磨损光路结构的情况下紧密贴合光路，并且样品的被测区域能够精确定位到光学窗口，从而能够提升光电检测设备检测精度。

附图说明

图1为本实用新型装置组装结构示意图。

图2为本实用新型装置上下板完全契合俯视效果图。

图3为本实用新型装置上下板完全契合侧面效果图

图4为本实用新型下板结构示意图。

图5为本实用新型上板结构示意图。

图中标记说明：1、连接柱；2、下板；3、上板；200、遮光板；201、光学窗口；210、第一定位凹槽；220、第二定位凹槽；230、第三定位凹槽；241、第一插销；242、第二插销；300、样品插槽；310、第一定位凸槽；320、第二定位凸槽；330、第三定位凸槽；340、第一插孔；341、第二插孔。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行描述，以便更好的理解本实用新型。

如图1所示的用于光电检测的精确定位结构，包括下板2和上板3，其中，上板3侧面上固定设置有连接柱1，下板2和上板3之间采用连接柱1相连接，图2为本实用新型装置上下板完全契合俯视效果图。图3为本实用新型装置上下板完全契合侧面效果图。如图4所示，下板2中间部位设置有遮光板200，遮光板200中间设置有光学窗口201，遮光板200的侧面分别设置有第一定位凹槽210、第二定位凹槽220和第三定位凹槽230；下板2的侧面两端位置分别设置有第一插销241和第二插销242；如图5所示，上板3中间部位设置有样品插槽300，样品插槽300的侧面分别设置有第一定位凸槽310、第二定位凸槽320和第三定位凸槽330，上板3侧面上固定设置的连接柱1的两端分别设置有第一插孔340和第二插孔341。第一定位凹槽210、第二定位凹槽220和第三定位凹槽230分别与第一定位凸槽310、第二定位凸槽320和第三定位凸槽330相契合。第一插销241、第二插销242分别与第一插孔340、第二插孔341相配合。