[实用新型]一种单模半微盘谐振腔有效

专利信息
申请号: 201420043536.7 申请日: 2014-01-23
公开(公告)号: CN203734125U 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 周治平;李心白;邓清中 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01S3/08 分类号: H01S3/08
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 单模 半微盘 谐振腔
【权利要求书】:

1.一种单模半微盘谐振腔,包括分别闭合的内、外轮廓线,内、外轮廓线之间为非良导体材料的波导(3),或非良导体材料与金属结合的表面等离子体波导(3),其特征在于,所述内轮廓线由用于电学连接或机械连接的扇形连接区域(2),以及实现波导宽度从窄到宽的渐变过渡曲线(1)组成,所述扇形连接区域(2)的角度小于或等于270度且大于0度。

2.根据权利要求1所述的单模半微盘谐振腔,其特征在于,所述扇形连接区域(2)为半圆形。

3.根据权利要求1所述的单模半微盘谐振腔,其特征在于,所述外轮廓线为圆形或过渡曲线形。

4.根据权利要求1所述的单模半微盘谐振腔,其特征在于,所述的过渡曲线(1)设有平板波导连接或者侧壁光栅连接。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的单模半微盘谐振腔,其特征在于所述过渡曲线(1)是用于平滑连接的曲线,包括样条曲线、插值曲线、最小变化曲线、欧拉螺线。

6.一种高速调制器,其特征在于,包含权利要求1至5中任意一项所述的单模半微盘谐振腔,所述单模半微盘谐振腔的波导(3)上制作有PN结,上层为P型硅(5),下层为N型硅(4),在单模半微盘谐振腔的连接区域(2)连接有电学连接结构,所述的电学连接结构上层为P+型硅(7),中层为本征硅(8),下层为N+型硅(6),在N+型硅(6)上表面以及P+型硅(7)上表面连接有金属电极(9)。

7.一种高速调制器,其特征在于,包含权利要求1至5中任意一项所述的单模半微盘谐振腔,所述单模半微盘谐振腔的波导(3)上制作有PN结,下层为P型硅(5),上层为N型硅(4),在单模半微盘谐振腔的连接区域(2)连接有电学连接结构,所述的电学连接结构下层为P+型硅(7),中层为本征硅(8),上层为N+型硅(6),在N+型硅(6)上表面以及P+型硅(7)上表面连接有金属电极(9)。

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