[实用新型]传动花键锥孔测量检具有效
申请号: | 201420056082.7 | 申请日: | 2014-01-29 |
公开(公告)号: | CN203672273U | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 梁振杰;谢卫军;曾召亮 | 申请(专利权)人: | 广西玉柴机器股份有限公司 |
主分类号: | G01B5/02 | 分类号: | G01B5/02;G01B5/24 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 537005 广西*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传动 花键 测量 | ||
1.一种传动花键锥孔测量检具,其特征在于,包括:
第一测量组件,其包括:第一检具体、第一紧帽、第一测头轴和第一百分表,所述第一检具体为管状件,下端具有轴向测头轴下滑口和检具体锐角定位刃;所述第一紧帽具有轴向的第一百分表插装孔,下端具有与第一检具体上端口嵌装的轴向凸台,轴向凸台下端具有轴向测头轴上滑口;所述第一紧帽侧面具有与第一百分表插装孔横向贯通的锁紧螺钉孔,所述第一百分表由上部插装在百分表插装孔内时,第一百分表的测头伸入测头轴上滑口,并通过第一锁紧螺钉旋入锁紧螺钉孔由侧面锁紧第一百分表;所述第一测头轴为圆柱轴状,能够轴向滑动的穿设在第一检具体的管腔内,其上部缩径段套设有第一弹簧,且顶端伸入测头轴上滑口与第一百分表的测头抵接;所述第一测头轴下部扩径段与第一检具体的测头轴下滑口适配滑动,其底端具有测头轴锐角定位刃;
第二测量组件,其包括:第二检具体、第二紧帽、第二测头轴、第二百分表和测头组件,其中,所述第二检具体为管状件,下端具有外测头轴螺口;所述第二紧帽具有轴向的第二百分表插装孔,下端具有与第二检具体上端口嵌装的轴向凸台,轴向凸台下端具有轴向测头轴上滑口;所述第二紧帽侧面具有与第二百分表插装孔横向贯通的锁紧螺钉孔,第二百分表由上部插装在百分表插装孔内时,第二百分表的测头伸入测头轴上滑口,并通过第二锁紧螺钉旋入锁紧螺钉孔由侧面锁紧第二百分表;所述第二测头轴为圆柱轴状,能够轴向滑动的穿设在第二检具体的管腔内,其上部缩径段套设有第二弹簧,且顶端伸入测头轴上滑口与第二百分表的测头抵接;下部缩径段伸入第二检具体的外测头轴螺口;所述测头组件包括:外测头轴、外测量套、横板、盖板、内测头轴、限位板和测头组件弹簧,其中,所述外测头轴为管状,其上端螺接到第二检具体的外测头轴螺口,下端外缘具有外测头轴锐角定位刃;外测量套能够轴向滑动的套装在外测头轴外周面,顶端通过螺栓固定有横板,横板顶面与第二百分表的测头抵接;内测头轴能够轴向滑动的嵌装在外测头轴内,下端外缘具有内测头轴锐角定位刃,顶端通过螺栓固定有限位板,且与盖板之间布设有测头组件弹簧;
存放、校对组件包括:底板,以及布设在底板顶面一侧的测量组件放置槽和布设在底板顶面另一侧的第一测量组件校对件和第二测量组件校对件,其中,第一测量组件校对件为量规截面到端面纵向距离标准校对件,第二测量组件校对件为极限锥角的标准校对件。
2.根据权利要求1所述的传动花键锥孔测量检具,其特征在于:所述第一百分表由上部通过第一衬套插装在百分表插装孔内。
3.根据权利要求2所述的传动花键锥孔测量检具,其特征在于:所述第一测头轴中部过渡段的外周面轴向开设有限位槽,通过第一紧定螺钉从管状第一检具体的侧面旋入限位槽,对轴向滑动的第一测头轴进行限位。
4.根据权利要求1所述的传动花键锥孔测量检具,其特征在于:所述第二百分表由上部通过第二衬套插装在百分表插装孔内。
5.根据权利要求1所述的传动花键锥孔测量检具,其特征在于:所述第二测头轴中部过渡段的外周面轴向开设有限位槽,通过第二紧定螺钉从管状第二检具体的侧面旋入限位槽,对轴向滑动的第二测头轴进行限位。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的传动花键锥孔测量检具,其特征在于:所述第二测量组件校对件又包括:第二校对件和第三校对件。
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