[实用新型]一种配对晶体电光Q开关的测试支架

说明书

技术领域

本实用新型涉及激光元器件的脉冲激光调Q器件领域，特别是指一种配对晶体电光Q开关的测试支架。 

背景技术

电光Q开关是激光器中非常重要的一个组成部分，电光调Q技术是利用在晶体上施加电压改变晶体的折射率，从而达到改变通过晶体激光的偏振态，与偏振片一起使用可以实现对激光的开关作用，利用了电光Q开关的脉冲激光，脉宽窄，峰值功率高。当前加工电光Q开关的晶体材料，有DKDP(磷酸二氘钾)，LN(铌酸锂)，RTP(磷酸氧钛铷)，KTP(磷酸氧钛钾)等。而针对RTP，KTP类双轴晶体制作的电光Q开关，需两片晶体配对使用，以便抵消单片晶体产生的对激光的自然双折射，通用电极封装形式如图1所示，1、2为配对使用的第一晶体、第二晶体，3为第一电极、4为第二电极，此两部分电极在电路中并联，5为两晶体的第三电极，起到固定开关，施加电压的作用，电极5的两侧底角为45°的燕尾形，6为各部分电极引出的导线，在电极的底面设有螺纹孔，用于固定配对晶体电光Q开关，晶体与电极之间通过导电胶进行粘接。此种形式的封装结构，电极和导线接头部分都裸露在外，而且电光Q开关在测试和使用过程中，施加的电压都在1kV以上，所以对测试人员的安全性影响很大。 

实用新型内容

本实用新型提出一种配对晶体电光Q开关的测试支架，解决了现有技术中由于电光Q开关封装简单、电极外露而引起对测试人员安全性差的问题。 

本实用新型的技术方案是这样实现的：一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体，所述支架本体设有顶端面、两侧端面、底端面，所述支架本体内设有空腔，便于放置电光Q开关，所述顶端面上设有圆孔和2个导线插孔，所述圆孔、导线插孔分别位于所述顶端面的中心处、边缘处，所述支架本 体的底端面上设有凹槽，所述凹槽的中部设有通孔，紧邻所述导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极。 

作为优选的技术方案，所述凹槽的截面呈燕尾形，且所述凹槽的侧边与底边呈45°夹角。 

作为优选的技术方案，紧邻所述导线插孔的所述侧端面上设有便于标准电极旋入的螺纹孔。 

本实用新型同背景技术相比所产生的有益效果： 

测试支架内部中空，电光Q开关放置在支架内部，这种四周封闭设计，避免了在测试、调节的过程中，测试人员与裸露电极的误接触，导线由圆孔引出，放入导线插孔内，并固定，避免了测试人员的误接触，避免了在调节过程中，由于导线不固定引起的晃动、接触导致的短路。 

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 

图1为配对晶体电光Q开关的结构示意图； 

图2为本实用新型一种配对晶体电光Q开关的测试支架结构示意图。 

图中：7-支架本体；8-凹槽；9-圆孔；10-第一导线插孔；11-第二导线插孔；12-第一标准电极；13-第二标准电极；14-通孔。 

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人 员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。 

如图2所示，一种配对晶体电光Q开关的测试支架，包括支架本体7，支架本体7采用绝缘材料制成，如聚甲醛等，支架本体7设有顶端面、两侧端面、底端面，支架本体7内设有空腔，便于放置电光Q开关，顶端面上设有圆孔9和2个导线插孔，圆孔9、导线插孔分别位于顶端面的中心处、边缘处，圆孔9用于引出导线，第一导线插孔为图中10，第二导线插孔为图中11，支架本体7的底端面上设有凹槽8，凹槽8的中部设有通孔14，通孔14用于将电光Q开关固定在测试支架上，紧邻导线插孔的侧端面上固定有2个标准电极，第一标准电极为图中12，第一标准电极为图中13，凹槽8的截面呈燕尾形，且凹槽的侧边与底边呈45°夹角，紧邻所述导线插孔的侧端面上设有便于标准电极旋入的螺纹孔。