[实用新型]一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置有效

专利信息
申请号: 201420066579.7 申请日: 2014-02-14
公开(公告)号: CN203807592U 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 杨秀凡;张殿喜;兰洵;周士芸;闫万珺;陈召松;杨丽;邓永荣;周鹏 申请(专利权)人: 安顺学院
主分类号: C30B29/06 分类号: C30B29/06;C30B28/06
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 谷庆红
地址: 561000 贵*** 国省代码: 贵州;52
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摘要:
搜索关键词: 一种 铸锭 多晶 晶体生长 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,包括铸锭炉(1)及设置于铸锭炉(1)上的测量部件(2),其特征在于:所述测量部件(2)由固定支架(21)及安装在固定支架(21)上的长晶棒(22)组成,所述长晶棒(22)包括测量部分(221)及操作读数部分(222),且操作读数部分(222)设置为花纹状结构。

2.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述固定支架(21)包括安装板(211)及固定在安装板(211)上的支撑立柱(212),在支撑立柱(212)上端固定有横杆(213),在横杆(213)末端设置有固定环(214)。

3.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述操作读数部分(222)设置有刻度。

4.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述操作读数部分(222)的直径大于测量部分(221)的直径。

5.根据权利要求2所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述固定环(214)上设置有与长晶棒(22)直径相匹配的固定孔(2141)。

6.根据权利要求2所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述安装板(211)设置有安装孔(2111)。

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