[实用新型]一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置有效
申请号: | 201420066579.7 | 申请日: | 2014-02-14 |
公开(公告)号: | CN203807592U | 公开(公告)日: | 2014-09-03 |
发明(设计)人: | 杨秀凡;张殿喜;兰洵;周士芸;闫万珺;陈召松;杨丽;邓永荣;周鹏 | 申请(专利权)人: | 安顺学院 |
主分类号: | C30B29/06 | 分类号: | C30B29/06;C30B28/06 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 561000 贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铸锭 多晶 晶体生长 测量 装置 | ||
1.一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,包括铸锭炉(1)及设置于铸锭炉(1)上的测量部件(2),其特征在于:所述测量部件(2)由固定支架(21)及安装在固定支架(21)上的长晶棒(22)组成,所述长晶棒(22)包括测量部分(221)及操作读数部分(222),且操作读数部分(222)设置为花纹状结构。
2.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述固定支架(21)包括安装板(211)及固定在安装板(211)上的支撑立柱(212),在支撑立柱(212)上端固定有横杆(213),在横杆(213)末端设置有固定环(214)。
3.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述操作读数部分(222)设置有刻度。
4.根据权利要求1所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述操作读数部分(222)的直径大于测量部分(221)的直径。
5.根据权利要求2所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述固定环(214)上设置有与长晶棒(22)直径相匹配的固定孔(2141)。
6.根据权利要求2所述的一种铸锭多晶硅晶体生长测量装置,其特征在于:所述安装板(211)设置有安装孔(2111)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安顺学院,未经安顺学院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420066579.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种航空旅客行李自助托运装置
- 下一篇:一种螺旋钻铤维修支架