[实用新型]一种测量金属腐蚀速率的双片状测量试片结构电感探针有效
申请号: | 201420076910.3 | 申请日: | 2014-02-24 |
公开(公告)号: | CN203772782U | 公开(公告)日: | 2014-08-13 |
发明(设计)人: | 郑丽群;李欣波 | 申请(专利权)人: | 沈阳中科韦尔腐蚀控制技术有限公司 |
主分类号: | G01N27/00 | 分类号: | G01N27/00 |
代理公司: | 沈阳利泰专利商标代理有限公司 21209 | 代理人: | 李枢 |
地址: | 110159 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 金属腐蚀 速率 片状 试片 结构 电感 探针 | ||
技术领域
本实用新型涉及测量金属腐蚀技术领域,特别是涉及一种测量金属腐蚀速率的双片状测量试片结构电感探针。
背景技术
金属腐蚀每年都会给国民经济造成重大的损失,特别是炼化企业设备及管路的腐蚀,除因腐蚀造成直接损失外,还会因腐蚀引起的停工检修等影响炼油产量而造成重大的间接损失,另外由于管路腐蚀而引起的重大安全隐患及安全事故也不容忽视。监测管道及设备的腐蚀速率从而根据测量结果急早采取防范措施是炼化企业解决装置腐蚀问题的重要手段,电感探针测量技术是目前测量金属腐蚀的一种有效方法,用与管道相同材质的测量试片与管道一同置于相同的腐蚀环境中,通过仪表监测测量试片的腐蚀以此近似的代替管道的腐蚀速率。
目前国内外已有的产品均为单测量试片、直通封胶工艺,如图3所示,探针内部选择密封胶13填充,除测量试片11外端面与被测介质接触并被腐蚀外,补偿试片12、引线14等探针内部所有元器件通体均用密封胶填充。在大量的应用中,发现这种产品具有一定的局限性,具体如下:
1.因为一个测量试片只能使用一种金属材质,所以一支单测量试片探针只能测量一种材质在腐蚀环境中的腐蚀速率,而出于工艺及选材的需要,在一个测量点使用双测量试片电感探针同时测量两种材质的腐蚀速率有很多的需求,其中一个测量试片用于监测管路的腐蚀,另一个测量试片用于调整生产工艺或选材。如图4所示,相反,用现有技术达到上述目的需要在管路16上开两个孔安装两支探针15,一是成本浪费,二是在带压高温管路上多开孔本身又会造成次生的安全隐患。
2.图3所示的直通式封胶工艺存在一定的技术问题及安全隐患。①测量试片、补偿试片、焊材、导线同处于一种密封胶环境,因热胀系数不同及探针被介质冲刷所造成的震荡影响,使介质很容易沿封胶边界渗透进探针体内,造成导线及补偿试片的腐蚀,补偿试片只用于温度补偿,一旦补偿试片因腐蚀而引起其阻值的变化就会造成探针失效,特别是介质在高流速的测量环境,即使国外拥有多年成熟技术的探针在短时间内也会造成探针大量失效。②一旦介质渗透进探针体内,探针尾部的密封引线头是唯一一道安全屏障,在面对几百度的高温、几百公斤的高压及高含有毒介质等情况下,安全系数不够充分,况且目前新建的炼油企业,其检修周期多达四年,而探针在不能带压拆装的情况下,必需等到装置停工才能换下探针,所以更应加大探针的安全系数。③探针最长可达1米,直通式封胶在工艺上很难保证通体密封均匀致密。
3.现在双管状电感探针测量技术已有应用,可以达到在一个开孔点同时测量两种材质腐蚀的目的,但两种不同材质的管状测量试片是焊接在一起的,有测量电解质介质的情况下,两种不同的金属因电极电位不同,会产生电偶腐蚀,使探针很快失效,所以一般只限于在高温非电解质的情况下使用。而双片状电感探针则不存在电偶腐蚀。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是,提供一种测量金属腐蚀速率的双片状测量试片结构电感探针,可在一个被测介质监测点用一支探针能同时测量两个金属试片的腐蚀速率,而且两种材质的测量试片完全隔离,避免在低温电解质环境下产生电偶腐蚀,减小因多安装探针而引发的次生安全隐患,同时采用测量试片与补偿试片隔离的独特结构,使探针的使用寿命、安全系数、可操作性及适用性均大为增强,节约成本。
采用的技术方案是:
一种测量金属腐蚀速率的双片状测量试片结构电感探针,包括探针端盖、八芯玻璃烧结隔离端子、温度补偿试片、金属引线、导热罐封胶、探针体、十二芯玻璃烧结引线端子、第一种材料测量试片、密封胶、第二种材料测量试片。所述的八芯玻璃烧结隔离端子由不锈钢端子体及八根合金丝通过玻璃烧结技术固定构成,合金丝与金属材料端子体通过玻璃烧结密封,且耐高温、耐高压、耐腐蚀。由第一种材料测量试片和第二种材料测量试片组成的双测量试片的八个管脚分别与八芯玻璃烧结隔离端子的一侧端子的八根合金丝焊接,与双测量试片相对应的两个温度补偿试片分别与八芯玻璃烧结隔离端子的另一侧对应端子焊接。所述八芯玻璃烧结隔离端子的另一侧端引线、温度补偿试片的相应管脚、十二芯玻璃烧结引线端子的引线之间的相对应端子通过金属引线焊接,整体形成双试片测量回路。所述探针端盖、八芯玻璃烧结隔离端子、探针体、十二芯玻璃烧结引线端子通过焊接连接在一起。
上述的探针端盖与八芯玻璃烧结隔离端子焊接在一起,并与第一种材料测量试片和第二种材料测量试片组成的双测量试片一同形成测量试片腔体,所述测量试片腔体内填充密封胶。
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