[实用新型]一种石英晶体的测试头

说明书

技术领域

本实用新型涉及石英晶体的测试设备领域，具体涉及一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。

背景技术

石英晶体是石英晶体谐振器的核心器件，为了提高石英晶体谐振器的工作精度，在其生产过程中需要经过多次的检测，在现有技术中，石英晶体上的针脚电性良劣是通过测试板上的探针与石英晶体上的针脚相接触，使待测石英晶体上的针脚通过探针与集成线路板构成电性连接。然而，由于探针直径较小的结构特性，使其在频繁的测试时容易受到垂直于探针长度方向的力，这样一来容易造成探针发生弯曲，造成探针使用寿命的降低，另外，探针细小的针头与集成线路板一般是通过焊接或插接的方式进行连接，在探针损坏后需要更换整个测试头，不仅影响测试头的使用寿命，降低生产效率，也会影响到石英晶体的最终真实测量结果，使产品的不良率增加。

实用新型内容

为了解决上述技术存在的缺陷，本实用新型提供一种用于测试石英晶体上针脚电性良劣与否的测试头。

本实用新型实现上述技术效果所采用的技术方案是：

一种石英晶体的测试头，包括集成线路板以及与所述集成线路板配合的测试头本体，所述测试头本体的下端面设有向外延伸的延伸部，该延伸部与所述测试头本体一体成型并相互垂直，所述测试头本体在与所述延伸部相垂直的铅垂线上设有探针孔，该探针孔贯穿所述测试头本体和所述延伸部，所述探针孔内设有探针。

上述的一种石英晶体的测试头，所述测试头本体的上端面设有螺纹孔，所述测试头本体的上端面左右两侧设有挡板。

上述的一种石英晶体的测试头，所述探针由铜质针筒、上探针、弹簧和下探针构成，所述弹簧固定在所述针筒中部，所述上探针和所述下探针通过所述弹簧连接。

上述的一种石英晶体的测试头，所述上探针和所述下探针的针头均位于所述针筒外。

上述的一种石英晶体的测试头，所述探针孔在位于所述延伸部外端面的一端设有收腰孔。

上述的一种石英晶体的测试头，所述集成线路板上设有与所述上探针的针头电连接的金属触片。

本实用新型的有益效果为：本实用新型将整个探针的主体置于测试头本体和延伸部的内部，只露出上探针的针头和下探针的针头，使得整个探针在测试时只能受到垂直于探针长度方向的力，使探针能得到很好的保护。另外，与测试头本体相配合的集成线路板上设置有面片状的金属触片，上探针的针头在弹簧的作用下与该面片状的金属触片进行活动的电连接，大面积的金属触片增大了上探针的针头与集成线路板的接触面积。通过上述手段不仅延长了探针和测试头的使用寿命，同时也方便了探针的更换，提高了石英晶体的测试效率。

附图说明

图1为本实用新型所述测试头本体的立体图；

图2为本实用新型所述集成线路板的立体图；

图3为本实用新型所述探针的结构图；

图4为本实用新型所述测试头本体的横截面图。

图中：1-测试头本体、2-延伸部、3-探针孔、4-探针、5-螺纹孔、6-挡板、7-集成线路板、8-固定孔、9-金属触片、31-收腰孔、41-针筒、42-下探针、43-上探针、44-弹簧。

具体实施方式

为使对本实用新型作进一步的了解，下面参照说明书附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明：

如图1至图4所示，一种石英晶体的测试头，包括集成线路板7以及与集成线路板7配合的测试头本体1，测试头本体1采用绝缘材料制成。测试头本体1的下端面设有向外延伸的延伸部2，该延伸部2与测试头本体1一体成型并相互垂直。测试头本体1在与延伸部2相垂直的铅垂线上设有探针孔3，该探针孔3贯穿测试头本体1和延伸部2，探针孔3内设有探针4。