[实用新型]一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片

权利要求书

1.一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，它包括一表面为正方形的灵敏度试片，以所述正方形表面的中心为圆心，在所述正方形表面内设置有一圆形刻槽，以所述圆形刻槽的圆心为交点，在所述圆形刻槽内设置一十字刻槽；其特征在于： 

在所述灵敏度试片的十字刻槽所在面的背面设置一基体，在所述灵敏度试片的十字刻槽所在面设置粘贴胶条；所述灵敏度试片和粘贴胶条均以所述基体中心为基点固定在所述基体上，所述灵敏度试片、基体和粘贴胶条形成一体式结构。 

2.如权利要求1所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述基体设置为“井”字形，且“井”字形的四角均设置有一曲面凸起部，在所述基体的中央开设第一正方形孔。 

3.如权利要求2所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述第一正方形孔的边长比所述灵敏度试片上所设置圆形刻槽的直径大3mm～4mm。 

4.如权利要求1或2或3所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述基体采用塑料胶带、纸胶带、聚酯胶带和无纺布胶带中的一种，且所述基体的一侧面覆有粘胶。 

5.如权利要求2或3所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述粘贴胶条设置成与所述基体相同的形状，在所述粘贴胶条的中央开设第二正方形孔。 

6.如权利要求5所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述第二正方形孔的边长比所述第一正方形孔的边长大2mm～4mm。 

7.如权利要求1或2或3或6所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述粘贴胶条设置1～2层，各层所述粘贴胶条均采用单面带胶的塑料胶条，且各层所述粘贴胶条的形状相同，各层所述粘贴胶条的大小依次相差1mm以上。 

8.如权利要求4所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述粘贴胶条设置1～2层，各层所述粘贴胶条均采用单面带胶的塑料胶条，且各层所述粘贴胶条的形状相同，各层所述粘贴胶条的大小依次相差1mm以上。 

9.如权利要求5所述的一种用于磁粉探伤性能校验的一体式灵敏度试片，其特征在于：所述粘贴胶条设置1～2层，各层所述粘贴胶条均采用单面带胶的塑料胶条，且各层所述粘贴胶条的形状相同，各层所述粘贴胶条的大小依次相差1mm以上。