[实用新型]液晶显示面板的亮点缺陷去除装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种去除液晶面板的亮点缺陷的装置。

背景技术

透射型的液晶显示面板具备在一对基板之间夹着液晶材料层所构成的液晶单元及配置于其背面侧的背光源；通过将液晶单元的透光性以每个显示单位(画素或者是子画素)进行控制，从而显示出所需的图像。像这样的液晶显示面板，由于在制造过程中混入的异物，存在发生无法正确控制液晶单位的显示单位的缺陷的情况。这种缺陷的典型的种类有，一直保持透射光的状态的亮点缺陷，及一直保持隔离光的状态的暗点(黑点)缺陷。

在使用液晶显示面板时，与暗点缺陷相比亮点缺陷更容易确认到，且易成为图像质量下降的原因。因此，作为判定液晶显示面板的不合格基准，相比暗点缺陷的数量，更严格判定亮点缺陷的个数。相对于此，因引发亮点缺陷的原因有很多，并且若不是在将液晶单元组件化之后，则无法发现其存在，所以要想完全去除处理亮点缺陷或者修复亮点缺陷是极其困难的。然而，如果将存在亮点缺陷的液晶面板全部判定为不合格，也就相当于是将在组装TFT、配线、滤色片等阶段的组件判定为不合格，因此一个不合格就会对生产成本造成很大的影响。

由此，通常采用将液晶显示面板的亮点缺陷进行暗点化(黑点化)，来提高成品率。将亮点缺陷进行暗点化的方式，被提出有各种方法。

作为以往技术之一，例如，被提出有将在液晶显示面板中滤色片的周围形成的黑色矩阵细粉碎，分散到滤色片与基板之间形成的间隙，黑化与亮点缺陷对应的滤色片的画素(参照下述专利文献1)等内容。

专利文献1：美国专利第7868993号说明书。

作为亮点缺陷的暗点化，以往，通常采用将亮点缺陷存在的整个显示单位(指画素或者子画素，以下称为像素)进行黑化。此时，如前述以往技术，将激光照射到存在于像素周围的黑色矩阵并细粉碎的方式中，存在由激光照射所产生吸热的不利影响会涉及到周边正常像素的忧虑，另外，因将细化的黑色矩阵逐渐地分散到滤色片与基板之间，存在处理一个像素需要很长时间的问题。

由此，亮点缺陷，在像素区域内的局部产生缺陷的情况较多，尤其是，取向膜的局部不良等，因偏光特性的不良情况引起的亮点缺陷的大小，不到像素整体面积的1/100的大小的情况较多。对于这种亮点缺陷如能通过局部的处理进行亮点缺陷的暗点化，则能够在不影响周边正常像素的情况下，缩短处理时间，从而解决前述以往技术的问题。

实用新型内容

本实用新型将解决这种情况而作为课题之一。即，本实用新型的目的为，对像素内局部存在的亮点缺陷，通过进行局部的暗点化，能够在不影响周边正常像素的情况下，用短暂的处理时间进行亮点缺陷的去除处理等。

为达到这种目的，本实用新型至少具备以下的构成。

一种液晶显示面板的亮点缺陷去除装置，其特征在于，具备：亮点缺陷检测装置，其从滤色片侧观察液晶显示面板，并检测存在于液晶显示面板像素内的亮点缺陷；及激光束照射装置，其将在对应检测出的亮点缺陷的滤色片基板上的位置对准激光束照射装置的光轴，并且照射的激光束的射束焦点尺寸与所述亮点缺陷的大小对应。所述激光束照射装置具备以光轴为中心被旋转调整的1/2波长板及偏光镜，使从光源射出的激光束通过所述1/2波长板及所述偏光镜，并根据照射时间改变调整所述1/2波长板的旋转角度，从而能够调整为激光束的输出从零开始逐渐地提高。

通过具有这种特点的本实用新型，能够将存在于液晶显示面板的像素内局部的亮点缺陷进行局部的黑点化，从而能够在不影响周边正常像素的情况下，用短暂的处理时间进行亮点缺陷的去除处理。另外，能够在不破坏存在亮点缺陷的像素的彩色显示的情况下进行亮点缺陷的去除处理，并能够将显示质量的下降控制在最小限度。

附图说明

图1是表示本实用新型的一实施方式所涉及的液晶显示面板的像素的一例的说明图。

图2是表示本实用新型的实施方式所涉及的液晶显示面板的亮点缺陷去除装置的动作的说明图。

图3是表示本实用新型的实施方式所涉及的液晶显示面板的亮点缺陷去除装置的动作的说明图。

图4是说明激光束照射装置的输出控制的说明图。

图5是表示本实用新型的实施方式所涉及的亮点缺陷去除装置的说明图。

附图标记说明

1-滤色片层，2-黑色矩阵，3-画素，P-像素，Db-亮点缺陷，Bp-黑点化处理部，Ls-射束焦点尺寸，Lb-激光束，10-激光束照射装置，20-支承台，30-扫描装置，40-控制装置，50-监控装置。