[实用新型]无线记忆卡测试装置

说明书

技术领域

本实用新型是有关于一种记忆卡测试装置，且特别是有关于一种无线记忆卡测试装置。

背景技术

由于移动电子技术的蓬勃发展，可作为扩充记忆体使用的记忆卡成为不可或缺的热门产品，不论是手机、相机、平板电脑或甚至笔记型电脑，皆可见其应用。

而目前记忆卡除重视外观极小化及记忆容量极大化，为了使智能装置之间传输方便或者可于云端浏览存放数据，更进一步推广具有非接触式传输功能的微型记忆卡。

因此，有鉴于记忆卡的大量需求，不管于裸板测试或封装后的测试，其重要性都必须相对大幅提升。然而，已知的记忆卡测试流程当中，无法于一测试装置上同时测试数量众多的记忆卡，且须针对不同的测试项目而分别将一记忆卡放置在对应的不同测试装置，不仅成本极高、手续繁杂且人工移动的方式极容易出错。

综上所述，为因应记忆卡的高产量输出并同时保持其品质控管，更须同时达到微型记忆卡的接触式传输及非接触式传输的测试需求，势必得提供低成本且高效率的记忆卡测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的是在提供一种无线记忆卡测试装置，并可同时对大量的记忆卡进行测试。

依据本实用新型一实施方式是在提供一种无线记忆卡测试装置，其是用以测试多个具有记忆卡天线的待测无线记忆卡，无线记忆卡测试装置包含一主体、一供料载体、一电性测试接口以及一天线测试接口。供料载体设于主体上，供料载体用以承置多个待测无线记忆卡。电性测试接口设于供料载体上，电性测试接口执行待测无线记忆卡的开卡测试及读写测试。天线测试接口设于供料载体上，天线测试接口包含一天线读取器及一天线测试板，其中天线读取器读取传输多个天线调变测试信号。天线测试板设有多个测试天线，测试天线分别电性连接天线读取器并无线传输天线调变测试信号至各待测无线记忆卡的记忆卡天线。其中各待测无线记忆卡的记忆卡天线回传天线调变测试信号时，天线读取器利用那些测试天线接收各记忆卡天线回传的天线调变测试信号，且天线读取器验证天线调变测试信号，用以批量化测试各待测无线记忆卡。

依据前述的具无线记忆卡测试装置，其中天线调变测试信号的频率可为13.56MHz或2.4GHz。天线测试接口更可测试各待测无线记忆卡的一天线控制器。电性测试接口更可测试各待测无线记忆卡的一安全芯片，用以进行预个人化动作(personalization)。天线读取器是验证各记忆卡天线回传各天线调变测试信号的一传输范围、一传输速率及一传输强度。电性测试接口是根据ISO7816协议测试待测无线记忆卡。电性测试接口及天线测试接口是采用应用程序通讯协定数据单元(Application Protocol Data Unit，APDU)指令来对待测无线记忆卡进行测试。

本实用新型的无线记忆卡测试装置，其利用设于供料载体上的电性测试接口及天线测试接口达到于同一装置上便可对待测无线记忆卡进行ISO7816协议(接触式智能卡)及ISO14443协议(非接触式智能卡)的测试。同时天线测试接口的天线测试板具有多组的测试天线，可对大量的待测无线记忆卡进行无线传输的测试。借此，改善以往待测记忆卡需依照测试步骤，一步一步放置在不同的测试装置至整体测试完成的缺点。

附图说明

为让本实用新型的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1是是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的外观示意图；

图2是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置放置待测无线记忆卡的示意图；

图3是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的天线测试接口示意图。

具体实施方式

请参照图1、图2及图3，其中图1是绘示依照本实用新型一实施方式的一种无线记忆卡测试装置的外观示意图，图2是绘示无线记忆卡测试装置放置待测无线记忆卡的示意图，图3是绘示无线记忆卡测试装置的天线测试接口示意图。无线记忆卡测试装置100用以测试多个待测无线记忆卡600，无线记忆卡测试装置100包含一主体200、一供料载体300、一电性测试接口400以及一天线测试接口500。

主体200是供测试待测无线记忆卡600用的电脑主机放置(未图示)，其已为已知技术故不于此再多加赘述。

供料载体300设于主体200上，供料载体300用以承置待测无线记忆卡600。其中图2上所绘示待测无线记忆卡600的数量仅为示意，而不限定于其数量。