[实用新型]一种LED多晶快速扫描检测系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED检测系统设备，特别涉及一种针对LED检测时发生旋转，仍能够快速判断LED方向，并采用高速开关切换电路对被测LED进行加电检测的LED多晶快速扫描检测机构。

背景技术

目前LED是朝阳产业，具有节能、环保等特点。处于大力推广的阶段，LED产量加大，对于LED测试设备的需求越来越大，测试速度高，功能全的产品更能满足客户的需求。

LED测试仪在检测LED芯片时，LED芯片夹在测试基台上首先要对芯片的旋转位置进行判断，判断出位置后，如果正装，就直接进行测试，如果旋转了180度，就需要基台进行旋转180度后在进行测试，这一机械旋转过程浪费了大量的测试时间。

图2展示了一些封装的LED产品的引脚图。如图2，当3C4CCOM或者3C4ACOM两种LED封装，旋转180度后，公共端(com)翻转到CH2.通常的LED测试仪就无法对这种封装的LED直接测试，只能旋转后再次测试。

实用新型内容

为了解决上述背景技术的缺陷，本实用新型提供一种LED多晶快速扫描检测系统，LED检测过程中，被测LED多种可能角度旋转后，脚位变换后带来测试引脚与基台连接发生变化，不需要将LED芯片重新旋转到正确位置，就能快速判断LED的引脚位置并能正确的加电到相应LED脚位上进行测试。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案是：

一种LED多晶快速扫描检测系统，其包括一种加电信号的通道自动切换电路，所述通道自动切换电路由首次加电极性判断部分，通道切换部分和重加电测试部分组成，所述首次加电记性判断部分分为电学测试判断和光学测试判断两种手段，所述通道切换部分在判断极性后根据由FPGA发出控制信号控制通道切换。

进一步的，所述加电信号的通道自动切换电路使用高速的光隔离MOS开关，所述MOS开关的控制端连接FPGA数字控制电路，开关端连接测试电路到外部输出加电接口。

优选的，所述光学测试判断采用亮度指标作为极性判断的依据，电学测试判断极性选用电学VF极性判断。

本实用新型的有益效果是：

1.采用了开关网络切换加电测试通道，使得LED测试仪的功能大大的增强，LED的测试速度也大大提高；

2.高速的光隔离MOS切换开关的选用，大大的提高了开关的切换速度，使得开关建立时间最小0.2ms。

附图说明

图1为是开关扫描切换网络的结构示意图。

图2为LED芯片正位时LED封装形式结构示意图。

图3为LED芯片发生旋转180度连接在基台测试位时的LED封装形式结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的较佳实施例作详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围作出更为清楚明确的界定。

根据图2所示的两种三晶四脚LED，正位时，图2的CH1连接图1的P1接口上，图2的CH2连接在图1的P2接口上，图2的CH3连接在图1的P3接口上，图2的COM端连接在图1的P4接口上。这种连接是通常的正位连接测试。

LED芯片发生旋转180度连接在基台测试位时，图2的CH1连接图1的P3接口上，图2的CH2连接在图1的P4接口上，图2的CH3连接在图1的P3接口上，图2的COM端连接在图1的P4接口上。加电通道CH1、CH2、CH3都是分时加电导通，而COM端在测每个晶体是都是导通在地线回路上。所以把图1的P2通道和原来的P4通道切换。相应的CH1～CH3重新排列切换分时加电，

加电等待开关切换完毕后0.5ms电路稳定建立后开始加电测试，测试分为极性判断过程(扫描)，和正常项目测试。

以上所述，仅为本实用新型的具体实施方式之一，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本领域的技术人员在本实用新型所揭露的技术范围内，可不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。