[实用新型]一种锥束CT系统几何位置校正系统

权利要求书

1.一种锥束CT系统几何位置校正系统，所述锥束CT系统包括探测器（1）、旋转台（2）、射线源（3）、探测器台（4）、可调底座（5）和射线源台（6）；其中，所述探测器台（4）、可调底座（5）和射线源台（6）位于同一直线上；所述射线源台（6）和探测器台（4）分别位于两端，所述射线源（3）位于射线源台（6）上；所述探测器（1）放置在探测器台（4）上；所述可调底座（5）位于探测器台（4）和射线源台（6）之间，旋转台（2）设置在可调底座（5）上；其特征在于，所述锥束CT系统几何位置校正系统包括：定位装置（A）、准直装置（B）和轴调节装置（C）；其中，所述定位装置（A）包括支撑体（A3）、第一对准标记和第二对准标记（A1和A2），第一对准标记和第二对准标记（A1和A2）的形状和尺寸相同，平行设置在支撑体（A3）上，定位装置（A）贴放在射线源（3）前；所述准直装置（B）包括通孔板（B1）和支撑架（B3），通孔板（B1）的中心具有通孔（B2），通孔板（B1）通过支撑架（B3）放置在探测器（1）前，通孔的轴垂直于探测器；所述轴调节装置（C）包括校正杆（C1）和基座（C2），校正杆（C1）设置在基座（C2）上，轴调节装置（C）放置在旋转台（2）上。

2.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述第一和第二对准标记（A1和A2）的中心的连线平行于中心射线。

3.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述第一和第二对准标记（A1和A2）采用的材料的衰减系数大于支撑体（A3）的衰减系数。

4.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述通孔板（B1）的厚度与通孔的孔径成正比，所述通孔板（B1）的线性衰减系数与通孔板（B1）的厚度成反比。

5.如权利要求3所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述第一和第二对准标记的材料采用钨、铜、铅和锆中的一种。

6.如权利要求3所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述支撑体的材料采用有机玻璃。

7.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述通孔板的材料采用铅、钢、铁和铜中的一种。

8.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述轴调节装置的材料采用铅、钢、铁和铜中的一种。

9.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述支撑体（A3）为具有两个互相平行的表面的平板，所述第一和第二对准标记（A1和A2）分别镶嵌在支撑体（A3）的互相平行的表面上，并且二者中心的连线平行于支撑体（A3）的底面并垂直于所在的表面。

10.如权利要求1所述的锥束CT系统几何位置校正系统，其特征在于，所述第一和第二对准标记（A1和A2）分别为细丝圆环，在细丝圆环的内部设有两个相互正交的细丝。