[实用新型]一种基于X86主板自测试模型

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种主板自测试模型，具体是一种基于X86主板自测试模型，即X86主板通过软硬件技术相结合实现内建自测试（built-inself test，以下简称BIST）系统功能的电路模型。

背景技术

所谓BIST是指设计时在电路中植入用于提供自我测试功能相关功能电路的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。BIST是一种DFT（Design for Testability）技术，它可以应用于几乎所有电路，因此在半导体工业被广泛应用。采用BIST技术的优点在于：1、降低测试成本；2、提高错误覆盖率；3、缩短测试所需时间；4、方便客户服务；5、具备独立测试的能力。采用BIST技术可提高产品可测试性进而提高可维修性、易用性、可用性、保障性和可靠性，同时可以实现故障快速定位。

所谓X86架构指的是特定微处理器执行的一些计算机语言指令集，定义了芯片的基本使用规则，一如今天的X64、IA64等。X86是一个intel通用计算机系列的标准编号缩写,也标识一套通用的计算机指令集合,X86与处理器没有任何关系，它是一个对所有X86系统的简单的通配符定义，例如：i386,i586,奔腾(pentium)等。由于早期intel的CPU编号都是如8086,80286来编号,由于这整个系列的CPU都用的同一种CPU架构且都是指令兼容的,所以都用X86来标识所使用的指令集合。如今的奔腾,P2,P4,赛扬系列，酷睿双核，多核CPU都是支持X86指令系统的,所以都属于X86家族。目前基于X86架构主板成熟的BIST模型实现方法没有好的方案。现有测试方法都是基于外扩的检测设备对X86主板进行故障判断，传统方法对X86架构主板没有全面的检测能力。系统开机工作过程中，导致故障的因素是很多的，传统检测方法不能快速直观的告诉客户或维修人员故障发生在何处，非专业人员更没有办法快速定位故障，快速排除故障便无从谈起了。

实用新型内容

针对目前X86架构主板可测试性、可维修性、易用性、可用性、保障性和可靠性所遇到的问题，本实用新型要解决的技术问题是：提供一种基于X86主板自测试模型。该模型通过软硬件技术在X86架构主板模块中内置一种综合BIST功能模型，使主板在测试及客户使用中无需外加复杂的测试仪器便能进行自我诊断测试，可以自动诊断故障并智能报告目前主板硬件的工作状态。

本实用新型解决所述技术问题的技术方案是：设计一种基于X86主板自测试模型。该模型主要包括CPU、北桥、显示模块、参数采集模块、历史数据存储模块、南桥、FLASH、门阵和可连超级终端，其特征在于：所述CPU依次与北桥、南桥和FLASH电连接，同时CPU、北桥和南桥分别与参数采集模块电连接。

所述门阵主要包括自检信息采集存储控制模块、内部采集接口模块、通信模块、串口控制器模块、异常状态故障侦测识别模块和串行总线切换模块；其中，所述自检信息采集存储控制模块与门阵外的显示模块和南桥电连接；所述内部采集接口模块与门阵外的参数采集模块电连接；所述通信模块和串行总线切换模块分别与门阵外的历史数据存储模块电连接，所述串行总线切换模块还与南桥和FLASH的连接线电连接；所述串口控制器模块分别与异常状态故障侦测识别模块和门阵外的可连超级终端电连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

1、人性化：客户能随时了解X86主板的硬件状态及通过访问历史数据了解板卡的历史状态，模型能随时全面智能的诊断板卡的要害关键功能是否正常，减少操作人员的劳动强度，板卡出现任何硬件问题，不需要客户或非专业人员搭建维修环境和使用专用维修工具也能快速定位故障，在模型的提示和帮助下能更快速修复硬件故障。

2、简单实用快捷：不需要额外的维修工具来诊断显示POST CODE（主机板上电自检代码）即可快速诊断和定位板卡的故障,减小量产成品的维护成本。

3、使用方便：设计产品时，把显示模块的显示装置和可连至超级终端的串行口连到主板所在计算机系统的外壳上，这样不需拆开计算机系统的外壳即可快速自动诊断指示和定位板卡故障（当主板出现故障时），大幅提升使用上的便利性。

附图说明

图1是本实用新型基于X86主板自测试模型的一种实施例的组成结构和工作原理框图。

图2是本实用新型基于X86主板自测试模型的一种实施例的工作流程框图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本实用新型进一步说明。