[实用新型]一种外观检查装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种外观检查装置，尤其涉及一种用于49SMD晶振的外观检查装置。

背景技术

49SMD晶振是一种贴片型电子元器件，该型号晶振在生产过程中，完成压脚工序后，需要进行全数外观检查。现有的外观检查方法主要是靠人工逐个查看，发现外观不良产品将其挑选出，该方法效率低、费时费力，且长时间一个一个查看容易出现疏漏，导致不良产品流出。而目前市场上出现的SMD全自动外观检查装置也存在很大的局限性，只能检查产品一面，检查印字的一面就无法同时检查引线的一面，不能满足企业的生产需要。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种外观检查装置，能实现产品的批量双面检查，检查效率高，结构简单，使用方便。

本实用新型采用的技术方案是：一种外观检查装置，包括底板和与之适配的盖板，所述底板上设有若干个腰形通孔，底板的一端固接有挡板，底板的两侧均固接有侧挡板，所述侧挡板上均设有J形轨道，所述盖板的两侧均固接有与J形轨道相配合的导柱，盖板上固接有与导柱相靠近且与之垂直的斜角滑块，盖板通过导柱与J形轨道相配合活动连接于侧挡板上，靠近侧挡板的底板上设有与斜角滑块相适配的让位通孔。

作为本实用新型的进一步改进，所述腰形通孔的上方设有倒角。

作为本实用新型的进一步改进，所述腰形通孔有二百个。

本实用新型采用的有益效果是：本实用新型通过底板、盖板、J形轨道、导柱和腰形通孔相结合的结构设计，能实现对产品的批量双面检查，提高生产效率，降低了不良品的发生率，本实用新型结构简单，制造成本低，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型工作初始俯视图；

图2为图1的仰视图；

图3为本实用新型工作状态图；

图4为本实用新型工作完成俯视图；

图5为图4的仰视图；

图6为图3中底板1的结构示意图；

图7为图3中盖板2的结构示意图；

图中所示：1、底板，2、盖板，3、挡板，4、侧挡板，5、J形轨道，6、腰形通孔，7、倒角，8、让位通孔，9、导柱，10、斜角滑块，11、晶振。

具体实施方式

下面结合图1、图2、图3、图4、图5、图6和图7，对本实用新型做进一步的说明。

如图1、图2、图3、图4、图5、图6、图7所示，一种外观检查装置，包括底板1和与之适配的盖板2，底板1上设有二百个腰形通孔6，腰形通孔6的上方设有倒角7，底板1的一端固接有挡板3，底板1的两侧均固接有侧挡板4，侧挡板4上均设有J形轨道5，盖板2的两侧均固接有与J形轨道5相配合的导柱9，导柱9位于盖板2的端部，盖板2上固接有与导柱9相靠近且与之垂直的斜角滑块10，盖板2通过导柱9与J形轨道5相配合活动连接于侧挡板4上，靠近侧挡板4的底板1上设有与斜角滑块10相适配的让位通孔8。

本实用新型在开始工作时，盖板2覆盖在底板1上，导柱9处于J形轨道5中，斜角滑块10处于让位通孔8中，让位通孔8的设计使盖板2能平整的放置到底板1上，将产品晶振11带引线的一面朝上放置在盖板2上，此时即可检查盖板2上的所有晶振带引线的一面，检查完成后将盖板2没有导柱9的一端掀起，因盖板2的两侧均固接有与之垂直的斜角滑块10，斜角滑块10与底板1接触，盖板2与底板1形成斜角滑块10大小的倾斜角度，由于重力作用，晶振11会向下滑动，此时拖动盖板2向后滑动，晶振11会有序地向底板1滑动，由于腰形通孔6上方设有倒角7，起到了导向定位的作用，晶振11会更快的更准确的落入与之匹配的腰形通孔6中。当晶振11全数滑落后，盖板2的导柱9沿着J形导轨翻转180°盖到晶振11带引线一面的上方，压紧盖板2翻转整个装置，使晶振11带印字的一面朝上，此时即可通过腰形通孔6检查全数晶振11带印字的一面，至此完成晶振11的双面检查，提高生产效率，降低不良品的发生率，本实用新型结构简单，制造成本低，使用方便。