[实用新型]检测微电子机械系统加速度传感器芯片的特性的系统有效

专利信息
申请号: 201420141705.0 申请日: 2014-03-26
公开(公告)号: CN203811624U 公开(公告)日: 2014-09-03
发明(设计)人: 董旸;冯方方 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01P21/00 分类号: G01P21/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 检测 微电子 机械 系统 加速度 传感器 芯片 特性
【权利要求书】:

1.一种检测微电子机械系统加速度传感器芯片的特性的系统,其特征在于,包括:信号采集装置和特性检测与控制装置;其中,所述信号采集装置包括振动台、振动传感器、被检测的MEMS加速度传感器芯片和检测电路,所述振动台分别与所述振动传感器和所述被检测的MEMS加速度传感器芯片刚性连接; 

所述振动台,用于在不同频率的激励信号的作用下,产生不同频率的振动; 

所述振动传感器,用于采集所述振动台的振动变化量,将所述振动变化量转换为电压信号,并将所述电压信号作为输入信号输出给所述特性检测与控制装置; 

所述被检测的MEMS加速度传感器芯片,用于测量所述振动台的振动加速度,并将所述振动加速度转换为电容变化量; 

所述检测电路,用于将所述电容变化量转换为电压信号,并将所述电压信号作为输出信号输出给所述特性检测与控制装置; 

所述特性检测与控制装置,用于根据被检测的MEMS加速度传感器芯片在不同振动频率下的输入信号和输出信号,拟合所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的开环频率特性,将所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的开环频率特性与理想状态下的MEMS加速度传感器芯片的开环频率特性进行比较,确定所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的结构是否存在问题。 

2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述信号采集装置还包括第一开关、第二开关、第三开关和第四开关,其中, 

所述第一开关的一端接所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的上固定电极,另一端接正向驱动电压; 

所述第二开关的一端接所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的上固定电极,另一端接地; 

所述第三开关的一端接所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的下固定电极,另一端接负向驱动电压; 

所述第四开关的一端接所述被检测的MEMS加速度传感器芯片的下固定电极,另一端接地; 

所述第一开关和第三开关的开关状态由第一时钟信号驱动; 

所述第二开关和第四开关的开关状态由第二时钟信号驱动; 

所述第一时钟信号和第二时钟信号互补。 

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