[实用新型]大电流半导体器件结构有效
申请号: | 201420143532.6 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN203760459U | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 江炳煌 | 申请(专利权)人: | 福建福顺半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350001 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电流 半导体器件 结构 | ||
【权利要求书】:
1.一种大电流半导体器件结构,包括一封装外壳,其特征在于:所述封装外壳内设有一承载片,所述承载片包括承载位和承载引脚,所述承载位通过下层锡膏与芯片的下层铝垫紧密接触,所述芯片的上层铝垫通过上层锡膏与一接触导电片的触片紧密接触,所述接触导电片还设有接触导电引脚。
2.根据权利要求1所述的大电流半导体器件结构,其特征在于:所述承载引脚为2个。
3.根据权利要求1所述的大电流半导体器件结构,其特征在于:所述接触导电引脚位为2个。
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