[实用新型]TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统有效

专利信息
申请号: 201420147539.5 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN203800007U 公开(公告)日: 2014-08-27
发明(设计)人: 于会生;段淑卿;陈柳;苏佳伟 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01J37/20 分类号: H01J37/20;H01J37/26
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 100176 北京市大兴区*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: tem 样品 承载 装置 以及 放置 系统
【权利要求书】:

1.一种TEM样品承载装置,其特征在于,包括:金属网、金属网架及碳膜;所述金属网套接于所述金属网架上,并且包括多个金属网格;所述碳膜覆盖于所述金属网上;其中,所述碳膜对应每一金属网格的位置均设置有至少一样品孔。 

2.如权利要求1中任一项所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述样品孔是直径为7μm~10μm的圆孔。 

3.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述样品孔周围平行金属网格四边方向依次设置有一参考孔;其中,所述参考孔设置于距离样品孔边缘5μm~10μm处。 

4.如权利要求3中所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述参考孔是长为5μm~7μm,宽为1μm~2μm的长方形孔。 

5.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网架表面设置有一预定方向的水平标记线。 

6.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网还包括环绕所述金属网格的圆环形框。 

7.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网为铜网、镍网或者钼网,所述金属网架为铜网架、镍网架或者钼网架。 

8.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网格为方格。 

9.一种TEM样品放置系统,其特征在于,包括如权利要求1所述的TEM样品承载装置。 

10.如权利要求9所述的TEM样品放置系统,其特征在于,还包括样品杆及与所述样品杆固定连接的样品杯;其中,所述样品杯具有开口,其底部设置有支撑部。 

11.如权利要求10所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述金属网通过所述金属网架置于样品杯中,所述金属网架与所述样品杯的支撑部相配合。 

12.如权利要求10所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述样品杯的支撑部上开有凹槽;所述金属网架包括本体及设置于所述本体的外围直径方 向上对称分布的凸出柄;其中,所述本体与所述样品杯的支撑部配合,所述凸出柄与所述样品杯的支撑部上的凹槽咬合。 

13.如权利要求9所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述样品孔周围平行金属网格四边方向依次设置有一参考孔;其中,所述参考孔设置于距离样品孔边缘5μm~10μm处。 

14.如权利要求12所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述金属网架表面设置有一预定方向的水平标记线,所述预定方向是所述样品杆的水平轴线方向。 

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