[实用新型]TEM样品承载装置以及TEM样品放置系统有效
申请号: | 201420147539.5 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN203800007U | 公开(公告)日: | 2014-08-27 |
发明(设计)人: | 于会生;段淑卿;陈柳;苏佳伟 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01J37/20 | 分类号: | H01J37/20;H01J37/26 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | tem 样品 承载 装置 以及 放置 系统 | ||
1.一种TEM样品承载装置,其特征在于,包括:金属网、金属网架及碳膜;所述金属网套接于所述金属网架上,并且包括多个金属网格;所述碳膜覆盖于所述金属网上;其中,所述碳膜对应每一金属网格的位置均设置有至少一样品孔。
2.如权利要求1中任一项所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述样品孔是直径为7μm~10μm的圆孔。
3.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述样品孔周围平行金属网格四边方向依次设置有一参考孔;其中,所述参考孔设置于距离样品孔边缘5μm~10μm处。
4.如权利要求3中所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述参考孔是长为5μm~7μm,宽为1μm~2μm的长方形孔。
5.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网架表面设置有一预定方向的水平标记线。
6.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网还包括环绕所述金属网格的圆环形框。
7.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网为铜网、镍网或者钼网,所述金属网架为铜网架、镍网架或者钼网架。
8.如权利要求1所述的TEM样品承载装置,其特征在于,所述金属网格为方格。
9.一种TEM样品放置系统,其特征在于,包括如权利要求1所述的TEM样品承载装置。
10.如权利要求9所述的TEM样品放置系统,其特征在于,还包括样品杆及与所述样品杆固定连接的样品杯;其中,所述样品杯具有开口,其底部设置有支撑部。
11.如权利要求10所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述金属网通过所述金属网架置于样品杯中,所述金属网架与所述样品杯的支撑部相配合。
12.如权利要求10所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述样品杯的支撑部上开有凹槽;所述金属网架包括本体及设置于所述本体的外围直径方 向上对称分布的凸出柄;其中,所述本体与所述样品杯的支撑部配合,所述凸出柄与所述样品杯的支撑部上的凹槽咬合。
13.如权利要求9所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述样品孔周围平行金属网格四边方向依次设置有一参考孔;其中,所述参考孔设置于距离样品孔边缘5μm~10μm处。
14.如权利要求12所述的TEM样品放置系统,其特征在于,所述金属网架表面设置有一预定方向的水平标记线,所述预定方向是所述样品杆的水平轴线方向。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201420147539.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:中空螺旋管式线圈新型节能无极灯
- 下一篇:掏挖基础及该掏挖基础的施工方法