[实用新型]一种适用于芯片测试的电路

权利要求书

1.一种适用于芯片测试的电路，其特征在于：主要包括依次连接的测试焊盘、1位电平转换电路以及串转并电路，该串转并电路能够实现1位串行信号转n位并行信号；还设置有一控制电路对串转并电路进行控制，使得经1位电平转换电路输出的1位电平信号通过串转并电路转换为m位并行信号输出，这里m≤n。

2.根据权利要求1所述的适用于芯片测试的电路，其特征在于：所述控制电路包括逻辑电路、时钟电路和计数电路，逻辑电路用于向串转并电路、时钟电路和计数电路发出控制信号，并根据计数电路返回的计数值控制时钟电路向串转并电路发出时钟信号。

3.根据权利要求1或2所述的适用于芯片测试的电路，其特征在于：所述串转并电路包括n位数据线以及相应的n个子单元，n个子单元的一端作为并行信号输出端，另一端共接作为串行信号输入端；每个子单元包括一对反相器以及分别接使能信号和时钟信号的两个MOS管。