[实用新型]聚酯光学膜在线厚度检测控制系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种在线厚度检测及控制系统，具体涉及一种聚酯光学膜在线厚度检测控制系统。

背景技术

目前，聚酯光学膜主要应用于平板显示、各种保护膜的基膜材料等方面，其主要质量指标有：断裂强度、断裂伸长率、透光率、雾度等，而在聚酯光学膜的生产过程中，薄膜厚度的均匀性是一个重要的质量指标。作为质量控制管理的要求，应该对它进行适时检测并调整，使其在符合规定要求的范围内，最终制造出高质量的光学膜。而在纵拉和横拉及各个工艺流程中如果没有在线检测系统,就无从去调整和控制产品的质量。所以聚酯光学膜生产线上在线厚度检测及自动控制系统，是把握住聚酯光学膜在线厚度的最重要的质量技术环节，也使产品达到均匀性和平整度的完美统一。

聚酯薄膜厚度的均匀性主要取决于三个方面：一是生产线工艺状况及设备自身的稳定性；二是准确、有效和稳定的螺栓剖面调节控制，从模头铸片，经过纵拉和横拉，到形成薄膜的过程中发生了一系列质变；三是自动化程度，有效调节控制薄膜厚度，确保对薄膜厚度准确测量。现在的检测方法无法自动控制薄膜厚度，无法使聚酯光学膜的均匀性达到最佳。

实用新型内容

本实用新型的目的就是针对现有技术存在的缺陷，提供一种结构简单，能自动对螺栓加热进行控制调整，调节模唇开度，利用扫描设备自动控制薄膜厚度，使聚酯光学膜的均匀性达到最佳的聚酯光学膜在线厚度检测控制系统。

其技术方案是：聚酯光学膜在线厚度检测控制系统，包括相互连接的模头系统、冷却系统、纵拉系统、横拉系统、牵引系统和收卷系统，所述模头系统包括模头螺栓，所述冷却系统包括冷却转鼓，所述冷却系统和纵拉系统之间设有用于检测铸片厚度第一扫描系统，所述横拉系统和收卷系统之间的牵引系统上设有用于检测聚酯光学膜平均厚度的第二扫描系统，所述第一扫描系统和第二扫描系统均包括扫描仪、扫描架、PLC和控制计算机，设置在扫描架上的扫描仪通过PLC分别与用于控制模头螺栓和冷却转鼓的控制计算机连接。

所述扫描仪为X射线扫描系统。

所述控制计算机与模头螺栓之间，以及控制计算机与冷却转鼓之间设有PID调节器。

本实用新型与现有技术相比较，具有以下优点：能自动对螺栓加热进行控制调整，调节模唇开度，利用扫描设备自动控制薄膜厚度，使聚酯光学膜的均匀性达到最佳。

附图说明

图1是本实用新型一种实施例的结构示意图；

图2是本实用新型纵向拉伸系统的控制框图；

图3是本实用新型横向拉伸系统的控制框图。

具体实施方式

参照图1、图2和图3，聚酯光学膜在线厚度检测控制系统，包括相互连接的模头系统1、冷却系统2、纵拉系统4、横拉系统5、牵引系统6和收卷系统7，所述模头系统包括模头螺栓，所述冷却系统包括冷却转鼓，所述冷却系统2和纵拉系统4之间设有用于检测铸片厚度第一扫描系统，所述横拉系统5和收卷系统7之间的牵引系统6上设有用于检测聚酯光学膜8平均厚度的第二扫描系统，所述第一扫描系统和第二扫描系统均包括扫描仪10、扫描架11、PLC和控制计算机12，设置在扫描架11上的扫描仪10分别通过PLC与用于控制模头螺栓和冷却转鼓的控制计算机12连接。其中，第一扫描系统的PLC为第一PLC15，第二扫描系统的PLC为第二PLC16。

所述扫描仪10为X射线扫描系统。

所述控制计算机12与模头螺栓之间，以及控制计算机12与冷却转鼓之间设有PID调节器。PID调节器分别为第一PID调节器13和第二PID调节器14。

在冷却系统2之后、纵拉系统4之前配备第一扫描系统即第一测厚仪3；在横拉系统5之后、在牵引系统6处配置第二扫描系统即第二测厚仪9。

聚酯光学膜生产线设置了两个测厚仪。第一测厚仪3设置在冷却转鼓之后，用于测量铸片厚度。第二测厚仪8设置在薄膜的牵引区域内，用于测量拉伸聚酯光学膜的厚度。两个扫描仪将测得的厚度信号值、温度信号值等送至各自的PLC中进行数值变换和补偿计算，然后将它送至测厚仪的主计算机中进行控制计算及数值显示，最后去调整模头螺栓的温度，进行铸片的截面控制或调整冷却转鼓的速度，进行薄膜的平均厚度的控制。

厚度控制方法：