[实用新型]相控阵扫查器及相控阵检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及超声波检测技术领域，尤其涉及一种相控阵扫查器及相控阵检测装置。

背景技术

相控阵（Phased Array，PA）技术能够用于缺陷检测和测量，其显著优点是可以灵活、便捷而有效地控制声束形状和声压分布，其声束角度、焦柱位置、焦点尺寸及位置在一定范围内连续、动态可调，而且探头内可快速平移声束，由于相控阵技术相较于传动超声检测技术相比，优势明显，已越来越广泛的应用于日常的生产、检测等环节。

然而，现有技术中，相控阵（Phased Array，PA）扫查器的编码器装置和楔块装置为两个独立部分，或者虽有连接但是活动不灵便，不能微调编码器位置，进而不能很好的满足工程项目复杂情况下的试块检测需求，编码器对位置的记录不准确、操作不方便，影响检测效率和检测精度。

实用新型内容

本实用新型为解决上述技术问题提供一种相控阵扫查器及相控阵检测装置，能够对编码器的位置进行调整，适应工程项目复杂的试块检测需求，提高检测效率和检测精度。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种相控阵扫查器，所述相控阵扫查器包括：楔块、固设于所述楔块的相控阵探头、固设于所述楔块的卷板以及编码器；其中，所述卷板上设置有一夹持部，所述编码器通过所述夹持部转动连接于所述楔块上。

其中，所述相控阵探头侧壁设有多个中空的连接柱，所述楔块上设有多个螺纹孔，通过螺栓依次贯穿所述连接柱、所述螺纹孔进而将所述相控阵探头固设于所述楔块上。

其中，所述卷板与所述楔块之间为可拆卸连接。

其中，所述卷板包括长臂和短臂，所述长臂和所述短臂形成η字形结构，所述短臂和所述长臂被所述短臂遮覆的部分形成所述夹持部。

其中，所述长臂上未被所述短臂遮覆的部分设置有一通孔；

其中，所述长臂设置于至少一个所述连接柱上，利用螺栓依次穿过所述通孔、所述连接柱、所述楔块的螺纹孔进而将所述卷板固设于所述楔块上。

其中，所述长臂上未被所述短臂遮覆的部分设置有一沿所述长臂长度方向延伸的中空的滑槽；其中，所述长臂设置于至少一个所述连接柱上，利用螺栓依次穿过所述滑槽、所述连接柱、所述楔块的螺纹孔进而将所述卷板滑动连接于所述楔块上。

其中，所述短臂和所述长臂被所述短臂遮覆的部分在相应位置设置有第一螺纹孔和第二螺纹孔，所述夹持部通过可调螺栓依次贯穿所述第一螺纹孔和第二螺纹孔、并左右转动进而调整固定夹持于其内的所述编码器。

其中，所述夹持部转动连接一小杆连接件，所述编码器连接于所述小杆连接件。

其中，所述长臂和所述短臂相同一侧的侧壁均抵接所述相控阵探头的侧壁设置。

为解决上述技术问题，本实用新型还提供中，相控阵检测装置，包括如上述任一项实施方式所述的相控阵扫查器；及通过通信线缆连接于所述扫查器的超声波检测仪。

本实用新型的相控阵扫查器及相控阵检测装置：通过在楔块上设置具有用以转动连接编码器的夹持部的卷板，编码器可以跟随楔块前进以记录扫查位置，并且编码器的位置能够进行微调，能够适应工程项目复杂的试块检测需求，提高检测效率和检测精度。

附图说明

图1是本实用新型相控阵扫查器实施方式的主视图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本实用新型进行详细说明。

参阅图1，本实用新型实施方式的相控阵扫查器，相控阵扫查器包括：楔块1、相控阵探头2、卷板3以及编码器4。其中，楔块1可以选用如图1所示的近似直角三角形的结构。进一步地，相控阵探头2固设于楔块1上，卷板3也固设于楔块1上，卷板3上设置有一夹持部31，编码器4通过夹持部31转动连接于楔块1上，以使得编码器4可以跟随楔块1前进以记录扫查位置，并且编码器4的位置能够进行微调，能够适应工程项目复杂的试块检测需求，提高检测效率和检测精度。

作为一具体实施方式，相控阵探头2与楔块1之间为可拆卸连接。举例而言，可以采用如下结构：相控阵探头2侧壁设有多个中空的连接柱21，楔块1上设有多个螺纹孔（图未示），通过螺栓221依次贯穿连接柱21、螺纹孔进而将相控阵探头2锁紧固定于楔块1上。相控阵探头2和楔块1以可拆卸的方式进行连接，方便对相控阵探头2的清洁、检查和维护。

在另一具体应用实施方式中，卷板3与楔块1之间为可拆卸连接。具体而言，卷板3包括长臂32和短臂33，长臂32和短臂33形成η字形结构，短臂33和长臂32被短臂33遮覆的部分共同形成所述夹持部31。