[实用新型]光纤免缠绕插损回损测试仪

说明书

技术领域

    本实用新型涉及一种用于光纤连接器测试的设备，具体地说是一种光纤免缠绕插损回损测试仪，属于光纤通信技术领域。 

背景技术

光纤通信具有信号稳定、损耗小、传输距离长、容量高等多方面优点，已在各国现代通信网络建设中广泛采用备。当前，我国的光纤通信网络建设迅猛，三大运营商及广电系统都确定了“加快光进铜退、推进接入网战略转型”的思路。光纤活动连接器和光纤一样，属于光纤通信网络中最基本的组成部分，在光纤通信网络中具有巨大的需求量。国家的相关主管部门针对光纤活动连接器也制定了多项行业标准，对其性能指标作出了具体的规定。行业标准规定，光纤活动连接器出厂前的光学性能检验项目为插入损耗和回波损耗。 

光纤连接器生产厂家出厂检验主要是利用插损回损测试仪来检测光纤连接器的性能指标。目前市场上的插损回损测试仪在测试光纤连接器回损的时候，需要对光纤进行缠绕，以消除光纤连接器后端端面的光反射影响，由此在测试过程中容易对光纤造成损伤，测试效率也比较低下。 

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种测试方便可靠，测试效率高且能避免对光纤造成损伤的光纤免缠绕插损回损测试仪。 

为了解决上述技术问题，本实用新型的光纤免缠绕插损回损测试仪，包括中央处理器，中央处理器通过光发射模块连接波分复用器，波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的时钟芯片，时钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。     所述被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接。 

所述分路器通过接头和测试线连接被测跳线的前端面。 

采用上述的结构后，由于光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，经过接头和测试线传输到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，回损测试模块还经过时钟芯片到CPU，由此可以通过时钟芯片提供时间基准，回损测试模块记录返回的菲涅尔反射，回损测试模块通过与时钟芯片的同步，可以将不同端面的反射值区分开，就达到了免于光纤缠绕的目的，测试方便可靠，避免了光纤在测试时受伤，还可以极大地提升产品测试效率。 

附图说明

    图1为本实用新型光纤免缠绕插损回损测试仪的原理框图。 

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，对本实用新型的光纤免缠绕插损回损测试仪作进一步详细说明。 

如图所示，本实用新型的光纤免缠绕插损回损测试仪，包括中央处理器（CPU），中央处理器通过光发射模块连接波分复用器（WDM）；波分复用器信号的输出端连接光分路器（高回损光分路器），高回损光分路器的输出端通过FC/APC接头和测试线连接到被测跳线的前端面上，高回损光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的时钟芯片，时钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。     进一步的还可以在被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接。 

其工作原理如下： 

在测试时，先选定需要测试的波长，CPU控制相应(光发射模块)波长激光器发射脉冲信号，同时时钟芯片记录时间进行同步，回损测试模块记录返回的菲涅尔反射，因为被测光链路上不同端面的反射光反射回来存在时间差，回损测试模块通过与时钟芯片的同步，可以将不同端面的反射值区分开，由此采用光时域反射原理，直接测量光纤连接器端面的菲涅尔反射，并可以将不同光纤连接器端面的菲涅尔反射区分开，避免了将光纤进行缠绕，也提升了测试效率，一次性可将连接器的插损回损同时测试。