[实用新型]一种光学综合实验系统

权利要求书

1.一种光学综合实验系统，其特征在于：它包括第一底座（1-1）、第二底座（1-2）、第三底座（1-3）、第四底座（1-4）、第五底座（1-5）、第一支杆（2-1）、第二支杆（2-2）、第三支杆（2-3）、第一套杆（3-1）、第二套杆（3-2）、第一固定旋钮（4-1）、第二固定旋钮（4-2）、第一伸缩杆（5-1）、第二伸缩杆（5-2）、光源（6）、CCD探头（7）、显示屏（8）、第一元件测试固定装置（9-1）、第二元件测试固定装置（9-2）、导轨（13）、第一紧固螺钉（14-1）和第二紧固螺钉（14-2）；

第一底座（1-1）、第二底座（1-2）、第三底座（1-3）、第四底座（1-4）和第五底座（1-5）均设置在导轨（13）上，且每个底座均与导轨（13）滑动连接，第一支杆（2-1）的一端固定在第一底座（1-1）上，第一支杆（2-1）的另一端固定有光源（6）；

第一套杆（3-1）的一端固定在第二底座（1-2）上，第一伸缩杆（5-1）的一端插入并固定在第一套杆（3-1）内，第一伸缩杆（5-1）的另一端固定有第一元件测试固定装置（9-1），所述第一元件测试固定装置（9-1）的上部设置有第一夹具圆孔（10-1），光学元件通过第一紧固螺钉（14-1）固定在第一夹具圆孔（10-1）内，第一元件测试固定装置（9-1）的下部设置有双狭缝（11），第一套杆（3-1）的外部设置有第一固定旋钮（4-1）；

第二套杆（3-2）的一端固定在第三底座（1-3）上，第二伸缩杆（5-2）的一端插入并固定在第二套杆（3-2）内，第二伸缩杆（5-2）的另一端固定有第二元件测试固定装置（9-2），所述第二元件测试固定装置（9-2）的上部设置有第二夹具圆孔（10-2），光学元件通过第二紧固螺钉（14-2）固定在第二夹具圆孔（10-2）内，第二元件测试固定装置（9-2）的下部设置有单狭缝（12），第二套杆（3-2）的外部设置有第二固定旋钮（4-2）；

第二支杆（2-2）的一端固定在第四底座（1-4）上，第二支杆（2-2）的另一端固定有CCD探头（7）；

第三支杆（2-3）的一端固定在第五底座（1-5）上，第三支杆（2-3）的另一端固定有显示屏（8）。

2.根据权利要求1所述的一种光学综合实验系统，其特征在于：所述光学元件包括透镜、三棱镜、反射镜或偏振片。

3.根据权利要求1所述的一种光学综合实验系统，其特征在于：所述光源（6）为白光光源。

4.根据权利要求3所述的一种光学综合实验系统，其特征在于：CCD探头(7)面向光源(6)的发光端。

5.根据权利要求1所述的一种光学综合实验系统，其特征在于：导轨（13）的底部设置有四个支撑脚。

6.根据权利要求5所述的一种光学综合实验系统，其特征在于：导轨（13）上刻有刻度。