[实用新型]测量物料水分的装置

权利要求书

1.一种测量物料水分的装置，其特征在于，包括：

微波信号源，以产生微波信号；

用于将所述微波信号分成两路微波信号的功分器，所述功分器与所述微波信号源相连；

微波发射天线，所述微波发射天线与所述功分器连接，以将所述两路微波信号中的一路发射至所要测量的物料；

用于接收透射过所述物料的微波信号微波接收天线；

微波网络，所述微波网络包括第一检波器、第二检波器和计算器，所述第一检波器与所述微波接收天线连，所述第二检波器与所述功分器相连，所述计算器分别与所述微波接收天线和所述功分器相连，以确定微波信号的相位变化和幅度变化；

低频信号采集电路，所述低频信号采集电路与所述微波网络相连；

测量所述物料厚度的γ射线输出器与相应探测器，所述射线探测器与所述低频信号采集电路相连，通过测量γ射线强度衰减程度计算物料厚度；

无线通信装置；

用于计算所述物料的厚度和水分含量的计算机，所述计算机通过所述无线通信装置无线地与所述低频信号采集电路相连。

2.根据权利要求1所述的测量物料水分的装置，其特征在于，所述微波发射天线与所述微波接收天线中心同轴地设置。

3.根据权利要求1所述的测量物料水分的装置，其特征在于，还包括：机架，承载所述物料的皮带穿过所述机架。

4.根据权利要求3所述的测量物料水分的装置，其特征在于，所述微波发射天线位于所述机架的顶部上，所述微波接收天线位于所述机架的底部上。

5.根据权利要求3所述的测量物料水分的装置，其特征在于，所述微波发射天线位于所述机架的底部上，所述微波接收天线位于所述机架的顶部上。

6.根据权利要求3所述的测量物料水分的装置，其特征在于，还包括：分别位于所述机架的顶部和底部的第一微波天线箱和第二微波天线箱，所述微波发射天线和所述微波接收天线分别设置在所述第一微波天线箱和所述第二微波天线箱中。

7.根据权利要求6所述的测量物料水分的装置，其特征在于，在位于所述机架的顶部的微波天线箱的下表面设有第一开口，在所述位于机架的底部的微波天线箱的上 表面设有第二开口。

8.根据权利要求7所述的测量物料水分的装置，其特征在于，所述第一开口和所述第二开口使用微波可透过的材料遮挡。

9.根据权利要求3所述的测量物料水分的装置，其特征在于，所述γ射线输出器位于所述机架的底部上，且所述γ射线输出器向上发射γ射线，所述射线探测器位于所述机架的顶部上。

10.根据权利要求3所述的测量物料水分的装置，其特征在于，还包括：位于所述机架的背部的机箱，所述微波信号源、所述微波网络和所述低频信号采集电路位于所述机箱中。