[实用新型]一种光学元件涂墨检测装置有效
| 申请号： | 201420174686.1 | 申请日： | 2014-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN203772756U | 公开（公告）日： | 2014-08-13 |
| 发明（设计）人： | 杨文辉;沈乾勇 | 申请（专利权）人： | 大英彰骏光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01B11/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 629300 四川省遂宁*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光学 元件 检测 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学元件涂墨检测装置，待检光学元件包括光学元件和涂墨，其特征在于：本装置包括一个箱体和检测幕，所述箱体内设有提供检测光的光源、滤光器、避光室、图像放大装置，所述箱体在光学元件夹具上方设有放样口，所述避光室在所述光学元件夹具上方设有取样口，所述滤光器位于所述光源与所述避光室之间，固定在所述避光室左侧，放大拆卸装置把所述图像放大装置固定在避光室的右侧，所述检测幕位于所述箱体的右侧，所述检测幕设有测量刻度。
2.根据权利要求1所述的光学元件涂墨检测装置，其特征在于：所述检测光、所述滤光器的中心点和所述图像放大装置的焦点同轴。
3.根据权利要求1所述的光学元件涂墨检测装置，其特征在于：所述放样口、所述取样口和所述光学元件夹具同轴。
4.根据权利要求1所述的光学元件涂墨检测装置，其特征在于：所述测量刻度为网格状，单格面积为0.25 cm2~1cm2。
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