[实用新型]一种高可靠性插拔测试装置有效

专利信息
申请号: 201420185207.6 申请日: 2014-04-16
公开(公告)号: CN203786226U 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 江亚;刘鹏 申请(专利权)人: 武汉钧恒科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 430079 湖北省武汉市东湖新技术开发区武大园*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 可靠性 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:包括支撑板(1)、测试PCB(2)和用于实现待测模块(4)与所述测试PCB(2)电接触的模块控制组件(3);所述测试PCB(2)的下端面与所述支撑板(1)的上端面固定连接;所述模块控制组件(3)设置于所述测试PCB(2)的上端面;

所述测试PCB(2)上设有多个焊孔(2.2);

所述模块控制组件(3)包括底座(3.1)、框架(3.3)和多个导通夹持弹片(3.2);所述底座(3.1)上设有与多个所述焊孔(2.2)相对应的多个导针孔;所述底座(3.1)的下端面与所述测试PCB(2)的上端面固定连接;多个所述导通夹持弹片(3.2)依次穿过所述导针孔和焊孔(2.2)、且与所述焊孔(2.2)焊接;所述框架(3.3)的下端与所述底座(3.1)固定连接,且所述框架(3.3)与所述底座(3.1)之间组成一个用于放置待测模块(4)的放置区域。

2.根据权利要求1所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:多个所述导通夹持弹片(3.2)均包括导针(3.2.4)、连接部(3.2.2)和下压部(3.2.1);所述导针(3.2.4)与所述连接部(3.2.2)的底部相连并一体成型;所述下压部(3.2.1)与所述连接部(3.2.2)顶部相连并一体成型,所述下压部(3.2.1)与所述连接部(3.2.2)之间组成一个用于夹紧所述待测模块(4)的电口的夹嘴(3.2.3)。

3.根据权利要求2所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述底座(3.1)的上端面还设有与所述多个所述连接部(3.2.2)相匹配的多个第一凹槽(3.1.2),,且多个所述导针孔分别设置多个所述第一凹槽(3.1.2)内。

4.根据权利要求1至3任一所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述框架(3.3)的下端设有两个用于卡住所述底座(3.1)两侧的卡槽(3.3.2)。

5.根据权利要求4所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述底座(3.1)的上端面设有第二凹槽(3.1.4);所述框架(3.3)的下端设有方形缺口(3.3.3);所述第二凹槽(3.1.4)与所述方形缺口(3.3.3)组成所述放置区域。

6.根据权利要求5所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述测试PCB(2)上设有多个第一紧固通孔(2.1);所述底座(3.1)设有与多个所述第一紧固通孔(2.1)相对应的多个第二紧固通孔(3.1.1;3.1.3);所述底座(3.1)与所述测试PCB(2)之间通过螺钉穿过所述第一紧固通孔(2.1)和第二紧固通孔(3.1.1;3.1.3)固定连接。

7.根据权利要求5所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述测试PCB(2)上设有四个第一紧固通孔(2.1);所述底座(3.1)设有与四个所述第一紧固通孔(2.1)相对应的四个第二紧固通孔(3.1.1;3.1.3);所述框架(3.3)上设有与四个所述第二紧固通孔(3.1.1;3.1.3)中的两个所述第二紧固通孔(3.1.3)相对应的两个第三紧固通孔(3.3.1);所述底座(3.1)与所述测试PCB(2)之间通过螺钉穿过所述第一紧固通孔(2.1)和第二紧固通孔(3.1.1)固定连接;所述框架(3.3)与所述底座(3.1)之间通过螺钉穿过所述第一紧固通孔(2.1)、第二紧固通孔(3.1.3)、第三紧固通孔(3.3.1)固定连接。

8.根据权利要求5所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述框架(3.3)的上端的两侧分别设有凸起(3.3.4)。

9.根据权利要求5所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述测试PCB(2)与所述支撑板(1)通过四个螺钉固定连接,四个所述螺钉分别穿过所述测试PCB(2)上的四个紧固通孔(2.3)。

10.根据权利要求9所述一种高可靠性插拔测试装置,其特征在于:所述支撑板(1)的上端面设有通风凹槽(1.1)。

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