[实用新型]一种SMA焊接底板有效
申请号: | 201420192783.3 | 申请日: | 2014-04-18 |
公开(公告)号: | CN203826352U | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 方丁玉;唐红梅;蒋伟平 | 申请(专利权)人: | 扬州虹扬科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68 |
代理公司: | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人: | 赵秀斌 |
地址: | 225116 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 sma 焊接 底板 | ||
技术领域
本实用新型涉及二极管加工设备领域,尤其涉及一种SMA焊接底板。
背景技术
现有的SMA在封装时候,由于原有焊接底板没有晶粒吸笔定位孔和定位台,往往都是点胶后把框架周转到点晶粒底板上进行点晶粒工序,然后再周转到焊接模上,这样消耗时间比较多,影响了工作效率。
发明内容
本实用新型提供一种解决生产效率低的SMA焊接底板。
本实用新型解决上述问题的技术方案是:
一种SMA焊接底板,包括底板本体,所述底板上均匀开有多个工位槽,所述工位槽两侧设置有框架定位销,所述工位槽两端分别设置有多个底板定位孔,所述底板定位孔外侧设置有定位台,所述定位台上设置有晶粒吸笔定位孔,在实际使用时,点胶完以后直接进行点晶粒工序晶粒,吸笔吸取晶粒后盖在SMA焊接底板上与SMA焊接底板形成封闭的空间,拔出吸笔气管并敲击晶粒吸盘,使晶粒落在SMA框架上,因为点胶工序和点晶粒工序用的都是本底板,所以不需要进行多余的周转,节省了时间,提高了效率,材料也因减少周转后质量得到提高,合格率也得到了提高,防止了在周转过程中可能出现的各种材料损伤和晶粒偏位,材料的正向电流承受能力得到提高,材料浪涌能力得到提升。
在上述技术方案的基础上,本实用新型还可以做如下改进,
进一步,所述定位台的高度为1-2mm。
本实用新型的有益效果是:
1.利用定位台保证了晶粒能够在底板上进行点晶粒工序;
2.本实用新型结构简单,造价低,实用性高。
附图说明
图1为本实用新型具体实施例所述的一种SMA焊接底板的俯视图;
图2为本实用新型具体实施例所述的一种SMA焊接底板的主视图;
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1、底板本体,2、工位槽,3、框架定位销,4、底板定位孔,5、定位台,6、晶粒吸笔定位孔。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本实用新型,并非用于限定本实用新型的范围。
一种SMA焊接底板,包括底板本体1,所述底板1上均匀开有多个工位槽2,所述工位槽2两侧设置有框架定位销3,所述工位槽2两端分别设置有多个底板定位孔4,所述底板定位孔4外侧设置有定位台5,所述定位台5上设置有晶粒吸笔定位孔6,所述定位台5的高度为1-2mm;
在实际使用时,点胶完以后直接进行点晶粒工序晶粒,吸笔吸取晶粒后盖在SMA焊接底板上与SMA焊接底板形成封闭的空间,拔出吸笔气管并敲击晶粒吸盘,,使晶粒落在SMA框架上,因为点胶工序和点晶粒工序用的都是本底板,所以不需要进行多余的周转,节省了时间,提高了效率,材料也因减少周转后质量得到提高,产品合格率也得到了提高,防止了在周转过程中可能出现的各种材料损伤和晶粒偏位,材料的正向电流承受能力得到提高,材料浪涌能力得到提升。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造