[实用新型]用于实时监测SF6分解气体中H2S光谱的装置有效
申请号: | 201420208299.5 | 申请日: | 2014-04-25 |
公开(公告)号: | CN203838055U | 公开(公告)日: | 2014-09-17 |
发明(设计)人: | 鲁钢;刘洋;宋杲;颜湘莲;季严松;苏镇西;杨韧;赵也;姚强 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;黑龙江省电力科学研究院;中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网陕西省电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01N21/33 | 分类号: | G01N21/33 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张利明 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 实时 监测 sf sub 分解 气体 光谱 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于光电技术检测领域。
背景技术
六氟化硫(SF6)具有优良的绝缘灭弧性能和理化特性,作为绝缘介质既可以减小设备尺寸,又能提高绝缘强度,伴随着城市用地的日益紧张,广泛应用于组合绝缘电器(GIS)、断路器(GCB)、变压器(GIT)、电缆(GIC)、输电管道(GIL)等输配电设备中。
纯净的SF6是无色、无毒、无味、不燃的惰性气体,在温度为150℃及以下时不易与其它物质发生化学反应,正常运行时分解产物极少或不分解。当SF6设备中发生绝缘隐患或故障时,无论是局部、电晕、火花或是电弧放电,都必然会引起能量释放,这些能量会使SF6气体发生分解反应,生成H2S、SO2、SF2、SF3、SF4、等多种低氟硫化物。SF6分解组分会加速GIS内绝缘的老化和金属材料表面的腐蚀,加重局部放电程度,严重时还会导致GIS发生突发性绝缘故障。因此对SF6浓度的测量是必须的。
目前国内外均有大量商业化的SF6检测器,归纳起来主要有4种测量方法:高压击穿法、色谱法、离子移动度计和红外光吸收谱法。
高压击穿法主要是根据待测SF6击穿电压的变化来进行定性测量,并不能定量给出SF6气体浓度,而且不能实时在线监测。
色谱法:色谱法被广泛应用于复杂组分的分离与鉴定。一般由真空系统、进样系统、离子源、检测器和计算机控制等部分组成。优点是测量精度和灵敏度较高。缺点是设备昂贵,且不能实时在线监测。
离子移动度计法:它是通过对设备中SF6气体总体杂质含量的测定,来反应设备中SF6气体的优劣程度。优点:测量成分多,精度较高。缺点:易受实验环境条件影响,不能实时监测。
红外光吸收谱法:利用SF6气体在红外波长的特征吸收峰来测量其浓度的方法,是目前主要研究的测量SF6气体方法,主要使用设备是傅里叶红外光谱仪。优点为测量精度高、能够实时在线检测,不受环境影响。缺点:需要使用傅里叶红外光谱仪,设备昂贵,且当散射较强时需要对测量结果进行修正。
SF6分解气体H2S的光谱是检测SF6气体总体杂质含量的重要指标,由于上述方法均不能够实现实时监测,因此导致H2S气体光谱也不能够得到实时监测。
实用新型内容
本实用新型是为了解决在SF6分解气体测量时,不能够实时监测分解气体中的H2S气体光谱的问题,现提供用于实时监测SF6分解气体中H2S光谱的装置。
用于实时监测SF6分解气体中H2S光谱的装置,它包括:氘光源、第一聚光镜、样品池、第二聚光镜和光谱仪;
氘光源发出的光经过第一聚光镜透射至样品池中,样品池将该光透射至第二聚光镜上,第二聚光镜将该光透射至光谱仪的入射狭缝中;
上述光谱仪的入射狭缝位于第二聚光镜的焦点处;
上述样品池内充有待检测的SF6分解气体。
上述氘光源为氘灯。
氘光源发出的光经过第一聚光镜后,获得的输出光为平行光。
光谱仪为maya2kPRO型光谱仪。
样品池为两端密封的圆筒结构。
样品池的内径为30mm,长度为40mm。
本实用新型所述的用于实时监测SF6分解气体中H2S光谱的装置,采用氘光源作为光源,利用H2S气体在190nm-200nm光谱下产生特征吸收峰的特点,将氘光源产生的光穿过待检测的SF6分解气体,通过光谱仪采集光谱数据,能够直观的获得SF6分解气体中H2S气体的光谱,从而达到实时监测的目的;同时还能够根据该光谱值通过比尔定律获得H2S气体的浓度。
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