[实用新型]一种接线座的芯片固定夹持装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试装置，特别是一种接线座的芯片固定夹持装置。

背景技术

在电子产品芯片测试过程中，通常需要将多种结构的芯片放置、并通过接插件或直接焊接与主电路板电连接在一起后组成一个完整的电子产品测试结构，然后通电进行测试。

然而，现有的测试方式通常是直接在测试仪器、与待测芯片之间通过接线的方式进行测试，不仅需要多次接线、操作效率较低，并且线缆的长度影响测试精度，接线的松紧程度也会影响测试精度。

实用新型内容

本实用新型的发明目的在于：针对现有技术存在的问题，提供一种测试精度高、效率高的接线座的芯片固定夹持装置。

一种接线座的芯片固定夹持装置，包括测试仪器和测试座体，所述测试仪器上设置有若干个接线插孔，所述测试座体的底部设置有接线柱，所述接线柱能够插接于所述测试仪器的接线插孔中；所述测试座体的上表面设置有用于容纳待测芯片的芯片容纳槽，所述芯片容纳槽上设置有活动盖板，所述活动盖板的固定端通过铰链铰接于芯片容纳槽的一侧，所述测试座体的另一侧设置有内凹卡槽，所述活动盖板的自由端铰接有活动卡板；所述活动卡板的一端朝向内凹卡槽延伸，所述活动卡板朝向内凹卡槽的一面设置有卡钩，所述活动卡板的中部与活动盖板铰接，所述活动卡板与盖板之间设置有弹簧，所述活动卡板的另一端向远离内凹卡槽的一端延伸。

当进行通电测试时，活动卡板上的卡钩卡合于内凹卡槽中，此时活动盖板将待测芯片封闭于芯片容纳槽中，保持了待测芯片与测试座体的稳定连接；

当需要插入、或更换待测芯片时，只需向活动卡板施压、使得活动卡板上的卡钩脱离测试座体上的内凹卡槽即可解除限位，并通过活动卡板顺势将活动盖板拉起、敞开芯片容纳槽，即可方便地插入或更换待测芯片，操作便捷，效率高。

综上所述，由于采用了上述技术方案，本实用新型的有益效果是：通过待测芯片通过测试座体与测试仪器连接的方式，当需要进行芯片测试时，无需多次、单独地在测试仪器与待测芯片上反复连线，提高了测试效率，并且，测试芯片与待测仪器之间通过测试座体内的固定长度的导线进行电连接，测试干扰小、精度高。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图中标记：测试座体—1；接线柱—2；芯片容纳槽—3；活动盖板—4；铰链—5；内凹卡槽—6；卡钩—7。

具体实施方式

下面结合附图，对本实用新型作详细的说明。

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图1所示，本实施例接线座的芯片固定夹持装置，包括测试仪器和测试座体1，测试仪器上设置有若干个接线插孔，测试座体1的底部设置有接线柱2，接线柱2能够插接于测试仪器的接线插孔中；测试座体1的上表面设置有用于容纳待测芯片的芯片容纳槽3，在芯片容纳槽3与接线柱2之间设置有若干连接导线，芯片容纳槽3上设置有活动盖板4，活动盖板4的作用是将待测芯片紧密封装于芯片容纳槽3中进行测试，活动盖板4的固定端通过铰链5铰接于芯片容纳槽3的一侧，测试座体1的另一侧设置有内凹卡槽6，活动盖板4的自由端铰接有活动卡板；活动卡板的一端朝向内凹卡槽6延伸，活动卡板朝向内凹卡槽6的一面设置有卡钩7，活动卡板的中部与活动盖板4铰接，活动卡板与盖板之间设置有弹簧，活动卡板的另一端向远离内凹卡槽6的一端延伸。

本实施例的工作方式如下：

当进行通电测试时，活动卡板上的卡钩7卡合于内凹卡槽6中，此时活动盖板4将待测芯片封闭于芯片容纳槽3中，保持了待测芯片与测试座体1的稳定连接；

当需要插入、或更换待测芯片时，只需向活动卡板施压、使得活动卡板上的卡钩7脱离测试座体1上的内凹卡槽6即可解除限位，并通过活动卡板顺势将活动盖板4拉起、敞开芯片容纳槽3，即可方便地插入或更换待测芯片，操作便捷，效率高。

本实施例通过上述结构，待测芯片通过测试座体1与测试仪器连接的方式，当需要进行芯片测试时，无需多次、单独地在测试仪器与待测芯片上反复连线，提高了测试效率，并且，测试芯片与待测仪器之间通过测试座体1内的固定长度的导线进行电连接，测试干扰小、精度高；

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。