[实用新型]一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置

权利要求书

1.一种具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：包括一面带有若干散热片的PCB板(1)，PCB板(1)与用于固定PCB板的支撑支架(4)相连。

2.根据权利要求1所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的PCB板(1)的形状为圆形，且以PCB板(1)的圆心为中心，若干散热片呈放射状在PCB板(1)的一面排列成环状结构。

3.根据权利要求2所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的环状结构的内径为PCB板(1)直径的一半，外径大于或等于PCB板(1)的直径。

4.根据权利要求2所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的支撑支架(4)包括连成一体的底座以及支架，且支架的一端与底座相连，另一端固定在PCB板(1)的一面上。

5.根据权利要求4所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的底座与支架的夹角呈90°。

6.根据权利要求4所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的支架的另一端位于相邻散热片所形成的通道中，且支架伸入环状结构内部。

7.根据权利要求4所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的底座上开设有螺栓孔。

8.根据权利要求1所述的具有良好散热性能的LED芯片老化试验装置，其特征在于：所述的PCB板(1)的另一面封装有电源插头(3)。