[实用新型]光传感IC测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及传感IC领域，特别是一种光传感IC的测试装置。

背景技术

光传感IC在元器件进库检测时，需要在不同的照度下进行电阻值检测，故而需要制作一个可以方便检测光传感IC电阻值的测试系统。

在无光传感IC测试系统时，检测光传感IC的一些缺点：

需要用照度计寻找需要的照度进行检测，不易操作，比较耗时费力；

检测时固定不方便，容易晃动，容易造成检测数值不准确。

因此，需要一种新的技术方案以解决上述问题。

实用新型内容

针对上述现有技术所存在的问题和不足，本实用新型的目的是提供一种光传感IC测试装置，能够解决对光传感IC测试不易操作，费时，固定不便的问题。

为实现上述目的，本实用新型光传感IC测试装置可采用如下技术方案：

一种光传感IC测试装置，包括暗箱、安装于暗箱中的光传感IC插孔底座、位于光传感器IC插孔底座上方的LED光源、连接LED光源的可调功率电源、以及连接光传感器IC插孔底座的外接万用表；所述可调功率电源具有调节旋钮，该调节旋钮位于暗箱外。

本实用新型与现有技术相比：本实用新型光传感IC测试装置整合成为一个模块化稳定的装置，解决了检测光传感IC晃动的问题，并能够解决了测试不易操作，费时的问题。并且本实用新型光传感IC检测工具零件少，成本低廉。需要使用时只需要将万用表、功率计和照度计组合使用即可。

附图说明

图1为本实用新型光传感IC测试装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本实用新型，应理解下述具体实施方式仅用于说明本实用新型而不用于限制本实用新型的范围，在阅读了本实用新型之后，本领域技术人员对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

请参阅图1所示，本实用新型公开了一种光传感IC测试装置，包括暗箱1、安装于暗箱1中的光传感IC插孔底座2、位于光传感器IC插孔底座2上方的LED光源3、连接LED光源3的可调功率电源4、以及连接光传感器IC插孔底座2的外接万用表5。所述可调功率电源4具有调节旋钮41，该调节旋钮41位于暗箱1外。

所述外接万用表5通过连接线51延伸入暗箱1内并连接光传感IC插孔底座2形成电连接。

本实用新型光传感IC测试装置利用LED作为光源模块，利用具备可调功率功能的电源作为LED光源3的电源，光源在上方起到提供光照的作用，将光传感IC6放在插针底座2上以使光传感IC固定。光传感IC放在插针底座2管脚并联万用表5。通过调节旋钮41调节电源功率来实现LED光源3的不同亮度，从而实现光传感IC光照位置的不同照度，这时万用表5就显示对应的阻值。本实用新型光传感IC测试装置整合成为一个模块化稳定的装置，解决了检测光传感IC晃动的问题，并能够解决了测试不易操作，费时的问题。并且本实用新型光传感IC检测工具零件少，成本低廉。需要使用时只需要将万用表、功率计和照度计组合使用即可。