[实用新型]应力迁移测试结构有效
申请号: | 201420235204.9 | 申请日: | 2014-05-08 |
公开(公告)号: | CN203895445U | 公开(公告)日: | 2014-10-22 |
发明(设计)人: | 胡永锋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L23/544 | 分类号: | H01L23/544 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 100176 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 应力 迁移 测试 结构 | ||
1.一种应力迁移测试结构,其特征在于,包括:n层金属互连线,每层金属互连线两端各连接一测试信号接入点,每相邻两层金属互连线之间通过一通孔连接,其中,n为大于等于2的整数。
2.如权利要求1所述的应力迁移测试结构,其特征在于,所述金属互连线的层数为3层~20层。
3.如权利要求1所述的应力迁移测试结构,其特征在于,所述n层金属互连线中,第n层金属互连线位于顶层位置,其中,连接第n层金属互连线与第n-1层金属互连线的通孔阻值最小。
4.如权利要求3所述的应力迁移测试结构,其特征在于,连接第n层金属互连线与第n-1层金属互连线的通孔截面宽度最大。
5.如权利要求3所述的应力迁移测试结构,其特征在于,当测试连接第n层金属互连线与第n-1层金属互连线的通孔阻值时,通过将第n层金属互连线与第1层金属互连线间的所有通孔阻值减去第n-1层金属互连线与第1层金属互连线间的所有通孔阻值而实现。
6.如权利要求1所述的应力迁移测试结构,其特征在于,所述金属互连线、测试信号接入点以及通孔均为铜材料结构。
7.如权利要求1所述的应力迁移测试结构,其特征在于,所述金属互连线、测试信号接入点以及通孔均为铝材料结构。
8.如权利要求1~7中任一项所述的应力迁移测试结构,其特征在于,所述应力迁移测试结构形成于晶圆的切割道上。
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