[实用新型]环模磨损形貌测量装置有效
| 申请号： | 201420239298.7 | 申请日： | 2014-05-09 |
| 公开（公告）号： | CN203837634U | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | 武凯;孙宇;崔先岸;王栓虎;丁武学;彭斌彬 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01B5/20 | 分类号： | G01B5/20 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 磨损 形貌 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种环模磨损形貌测量装置，其特征在于：包括磁铁片(1)、底座(2)、导轨(3)、垂直基座(4)、测微仪(5)和紧定螺钉(7)；垂直基座(4)与导轨(3)形成滑动副，且与导轨之间设置有紧定螺钉(7)；两个底座(2)分别设置在垂直基座(4)的两侧，其中一个底座(2)与导轨(3)固定连接；另一个底座(2)与导轨(3)形成滑动副，且与导轨(3)之间设置有紧定螺钉(7)；两个底座(2)位于导轨下方的内侧固连有磁铁片(1)；导轨(3)上有刻度；测微仪(5)与垂直基座(4)固连，且测微仪(5)的测量端位于底座(2)上固连磁铁片(1)的一侧。
2.根据权利要求1所述的环模磨损形貌测量装置，其特征在于：所述的测微仪(5)采用了去除了测砧的螺旋测微仪，去除了测砧的螺旋测微仪的基座与套筒(6)的通孔过盈配合，套筒(6)与垂直基座(4)的通孔过盈配合，去除了测砧的螺旋测微仪的测杆底端开孔，开孔的底部固连有测头固定磁铁(8)，测头(9)通过测头固定磁铁(8)固定在测杆底端的开孔内。
3.根据权利要求1所述的环模磨损形貌测量装置，其特征在于：所述的导轨(3)采用双轨，垂直基座(4)和底座(2)均位于双轨之间。
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