[实用新型]一种下压机构

说明书

[技术领域]

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，具体涉及一种下压机构。

[背景技术]

在现有技术中，半导体测试设备中的下压机构的下压机构主要采用气缸作为动力，存在不能实现高速动作、噪音大、不稳定的缺陷。

[发明内容]

针对现有技术中的上述缺陷，本实用新型公开了一种下压机构，采用电机作为动力输入，可以运用在高速和低速场合，适用性广，噪音低，响应速度快且性能稳定。

本实用新型的技术方案如下：

一种下压机构，包括机座、固定于所述机座上的电机、固定于所述电机输出轴上的圆柱凸轮、与所述圆柱凸轮的下边缘相切接触的测试针机构；所述机座上设有与所述电机输出轴轴线平行的直线导轨，所述测试针机构上设有与所述直线导轨对应的通孔；所述测试针机构的两侧通过弹簧与所述机座的上部连接。

本实用新型的下压机构中，采用电机作为动力输入，电机输出轴带动圆柱凸轮旋转，测试针机构在两侧弹簧的张力作用下与圆柱凸轮下边缘压紧，即测试针机构的上部始终与圆柱凸轮的下边缘相切接触，圆柱凸轮下边缘的高度呈增势变化时推动测试针机构下压，相应的，圆柱凸轮下边缘的高度呈减势变化时，测试针机构在弹簧的张力作用下对应上升，从而实现测试针机构的往复直线动作；采用电机作为动力输入可以适应高速和低速的工况需求，适用性广，同时与传统的气动下压机构相比其噪音小、响应速度快且性能稳定。

[附图说明]

图1为本实用新型实施例的结构示意图；

图2为图1的主视图。

[具体实施方式]

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细阐述。

如图1至图2所示，本实用新型的下压机构包括机座1、固定于所述机座1上的电机5、固定于所述电机5输出轴上的圆柱凸轮4、与所述圆柱凸轮4的下边缘相切接触的测试针机构2；所述机座1上设有与所述电机5输出轴的轴线平行的直线导轨7，所述测试针机构2上设有与所述直线导轨7对应的通孔，测试针机构2通过所述通孔套接在直线导轨7的外部，通过直线导轨的约束保证测试针机构2的运动方向；所述测试针机构2的两侧通过弹簧6与所述机座1的上部连接；

本实用新型的下压机构中，采用电机5作为动力输入，电机5的输出轴带动圆柱凸轮4旋转，测试针机构2在两侧弹簧6的张力作用下与圆柱凸轮4的下边缘压紧，即测试针机构2的上部始终与圆柱凸轮4的下边缘相切接触，圆柱凸轮4下边缘的高度呈增势变化时推动测试针机构2下压，相应的，圆柱凸轮4下边缘的高度呈减势变化时，测试针机构2在弹簧6的张力作用下对应上升，从而实现测试针机构2的往复直线动作；采用电机5作为动力输入可以适应高速和低速的工况需求，适用性广，同时与传统的气动下压机构相比其噪音小、响应速度快且性能稳定。

作为优选，所述测试针机构2的上部固定有轴承3，所述轴承3与所述圆柱凸轮4的下边缘相切接触；圆柱凸轮4在旋转运动的同时带动轴承3作旋转运动，同时推动测试针机构2作往复直线运动，通过轴承3的旋转，在保证传动的同时避免了圆柱凸轮4与测试针机构2直接接触产生的滑动摩擦。

以上所述的本发明实施方式，并不构成对本发明保护范围的限定。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的权利要求保护范围之内。