[实用新型]X荧光仪气体过滤装置

说明书

技术领域

    本实用新型涉及过滤装置，具体涉及一种X荧光仪气体过滤装置。 

背景技术

    在化验室日常检测中，由于X荧光分析仪在光谱分析过程中要在真空状态下对样品折射光进行分析测定。在整个分析过程中，需要用气泵把光谱室和分光室进行抽气至要求的真空。分光室和样片进样室相连，测试完毕分光室还要进气，从而使分光室气压跟外界气压一致，这样容易使分光室内进入灰尘及空气中的水汽，灰尘及水汽直接被抽到气泵中，容易使气泵损伤，影响气泵抽取真空的能力，从而影响X荧光仪的测量精度。 

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是如何确保分光室内的粉尘不能够进入气泵内，从而保护气泵。 

为解决上述技术问题，本实用新型所采取的技术方案是：一种X荧光仪气体过滤装置，包括交换柱，所述交换柱是密闭的活性氧化铝颗粒交换柱，活性氧化铝颗粒交换柱的进气管与X荧光仪分光室的出气口密封相连，活性氧化铝颗粒交换柱的出气管与气泵的进气口密封相连。 

本实用新型采用上述技术方案所设计的X荧光仪气体过滤装置，由于活性氧化铝颗粒交换柱的进气管与X荧光仪分光室的出气口密封相连，出气管与气泵的进气口密封相连，这样可以达到对从分光室到气泵的气体进行过滤的作用，从而防止粉尘进入泵体，达到保护气泵的作用。 

附图说明

    图1表示本实用新型X荧光仪气体过滤装置的结构示意图。 

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型X荧光仪气体过滤装置的结构作具体说明。 

参见图1，本实用新型X荧光仪气体过滤装置的结构包括交换柱，其中，交换柱是密闭的活性氧化铝颗粒交换柱2，活性氧化铝颗粒交换柱2的进气管3与X荧光仪分光室的出气口（图中未示）密封相连，活性氧化铝颗粒交换柱3的出气管1与气泵的进气口（图中未示）密封相连。当气体经过活性氧化铝颗粒交换柱3时，其里面的活性氧化铝颗粒就可以过滤掉气体中的粉尘杂质，从而起到对气泵的保护作用。