[实用新型]一种螺旋光电清纱器

说明书

所属技术领域

本实用新型涉及纺织检测设备领域，特别地，是一种监测纱线品质的光电清纱器。

背景技术

细纱工序所生产的管纱一般度带有粗节、绒毛及尘屑杂物等疵点，因此必须利用清纱器来对纱线进行检查和清洁。清纱器根据其原理和结构可分为机械式电子式两大类，即机械清纱器和电子清纱器。机械清纱器有金属刀片或梳针组成，他可以测量纱线的粗细变化，但易损伤纤维，刮毛纱线，影响纱线的弹性，尤其，当提高灵敏度时，易积聚浮游纤维、尘杂，导致断头。电子清纱器采用无接触检测，不会损伤和刮毛纱线，其通过对纱疵信息，再与设定值进行比较，当纱线某处的检测值超出标准时则切断纱线，剔除纱疵。

不管是机械清纱器和电子清纱器由于对纱线的检测指标都是监测纱线在固定角度的某一直径，无法监测整个纱线的直径状况，因此，易漏掉扁平状的纱疵。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种螺旋光电清纱器，该螺旋光电清纱器能够提高纱疵的鉴别率。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

该螺旋光电清纱器包括内壁设置有反射涂层的监测环，所述监测环的中心通过需监测的纱线，所述监测环的内壁上设置有扫过所述监测环平面的可转动的光学发射头，所述监测环滑动设置在一环形支座上且通过一驱动器驱动旋转，所述光学发射头发射光线扫过的平面两侧设置有监测所述光学发射头发射光线的光学监测装置。

作为优选，所述光学监测装置和所述光学发射头接收和发射的光线为红外线。

作为优选，所述光学监测装置为均匀环布在监测环的内壁上的两圈监测探头，所述监测探头位于所述光学发射头扫过的平面的两侧。

作为优选，所述光学监测装置还可以为均匀环布在监测环的内壁上的两圈导光条，所述导光条一侧均设置有监测所述光学发射头发射光线的光学监测头。

本实用新型的优点在于：

所述光学发射头不断的往复转动，即扫描所述监测环内的平面，由于光线在所述监测环内壁不断反射，形成了类圆形的光学轨迹，光学轨迹不断的扩大和缩小，当纱线阻挡光学轨迹时，光线在所述纱线表面形成漫反射，所述漫反射被所述光学监测装置监测到，通过此时光学发射头的角度，可以得知纱线的直径是否符合标准，由于光学轨迹以环形的方式监测纱线的直径，因此适应任何形状的纱疵，提高了纱疵的鉴别率。

附图说明

图1是本螺旋光电清纱器光学发射头状态一的结构示意图。

图2是本螺旋光电清纱器光学发射头状态二的结构示意图。

图3是本螺旋光电清纱器光学发射头状态三的结构示意图。

图4是本螺旋光电清纱器的立体结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明：

在本实施例中，参阅图1，该螺旋光电清纱器包括内壁设置有反射涂层的监测环100，所述监测环100的中心通过需监测的纱线10，所述监测环100的内壁上设置有扫过所述监测环100平面的可转动的光学发射头110，所述监测环100滑动设置在一环形支座200上且通过一驱动器驱动旋转，所述光学发射头110发射光线扫过的平面两侧设置有监测所述光学发射头110发射光线的光学监测装置。

上述螺旋光电清纱器，所述光学监测装置和所述光学发射头110接收和发射的光线为红外线，采用红外线可以避免可见光对所述光学监测装置待测干扰。

参阅图4，所述光学监测装置为均匀环布在监测环的内壁上的两圈监测探头300，所述监测探头300位于所述光学发射头110扫过的平面的两侧，环形设置的监测探头300可以360度监测被所述纱线10漫反射的光线，防止产生监测死角。

上述螺旋光电清纱器，所述光学监测装置在另外的实施例中还可以为均匀环布在监测环的内壁上的两圈导光条(未图示)，所述导光条一侧均设置有监测所述光学发射头110发射光线的光学监测头。

上述螺旋光电清纱器的工作方式和原理：

参阅图1、图2和图3，所述光学发射头110不断的往复转动，即扫描所述监测环100内的平面，由于光线在所述监测环100内壁不断反射，形成了类圆形的光学轨迹，光学轨迹不断的扩大和缩小，当纱线10阻挡光学轨迹时，光线在所述纱线10表面形成漫反射，所述漫反射被所述光学监测装置监测到，通过此时光学发射头110的角度，可以得知纱线10的直径是否符合标准。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。