[实用新型]一种零件质量缺陷检测仪

说明书

（一）      技术领域 

本实用新型涉及机械零件检测领域，特别涉及一种零件质量缺陷检测仪。

（二）      背景技术 

在机械零部件生产过程中，零件尺寸测量及其质量检测占有重要地位，而传统的测量方法有利用千分尺、游标卡尺或量规等进行测量，或者用物理方法测量，如压电转换测量，利用霍尔元件进行测量等。这些测量大都是测量装置与被测物体直接相接触，但有些被测量零件不易与测量装置接触或接触后测量精度不高或者被测零件为辐射体、高温物体而且有些零件只需要检测某些关键部位，这时传统测量方法的局限性就显现出来了。而国内外CCD激光测量仪等设备价格高，因此，需要提出一种非接触式的能够检测零件关键点位的经济型检测仪。

（三）      发明内容 

    本实用新型为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种结构简单、价格低廉、不用接触被检零件即可进行检测的零件质量缺陷检测仪。

本实用新型是通过如下技术方案实现的： 

一种零件质量缺陷检测仪，其特征是，包括X轴滑轨，所述X轴滑轨一侧连接有零件放置台，所述X轴滑轨上设有X轴丝杠，所述X轴丝杠上套有X轴滑块，所述X轴丝杠的一端连接X轴步进电机，所述X轴滑轨左端从内至外依次设有X轴左接近开关和X轴左行程开关，所述X轴滑轨右端从内至外依次设有X轴右接近开关和X轴右行程开关，所述X轴滑块上设有平行的Y轴丝杠和Y轴滑轨，所述Y轴滑轨设有套在Y轴丝杠上的Y轴滑块，所述Y轴丝杠的顶端连接Y轴步进电机，所述Y轴滑轨的上端从上至下依次设有Y轴上行程开关和Y轴上接近开关，所述Y轴滑轨的下端从上至下依次设有Y轴下接近开关和Y轴下行程开关，所述Y轴滑块上设有开口向下的框架，框架上设有激光传感器，所述框架和零件放置台位于X轴滑轨的同一侧；所述X轴左行程开关和X轴右行程开关分别与X轴步进电机电路连接，所述Y轴上行程开关和Y轴下行程开关分别与Y轴步进电机电路连接。

所述Y轴丝杠为滚珠丝杠。 

本实用新型的有益效果是： 

本实用新型结构简单，使用方便，成本低，自动化程度高，不用接触机器零件就可以将有缺陷的零件检测出来，非常方便。

（四）      附图说明 

下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。

图1为本实用新型的立体结构示意图； 

图2为本实用新型的工作原理示意图；

图3为本实用新型的检测流程图；

图4-图18为PLC控制系统程序中各功能块及其功能表；

图19为图2中A处的放大图。 

图中，1 X轴滑轨，2零件放置台，3 X轴丝杠，4 X轴步进电机，5 X轴左接近开关，6 X轴左行程开关，7 X轴右接近开关，8 X轴右行程开关，9 X轴滑块，10 Y轴丝杠，11 Y轴滑轨，12轴承座，13 Y轴步进电机，14 Y轴滑块，15 Y轴上行程开关，16 Y轴上接近开关，17 Y轴下接近开关，18 Y轴下行程开关，19框架，20激光传感器。 

（五）      具体实施方式 

附图为本实用新型的具体实施例。如图1至图3、图19所示，该种零件质量缺陷检测仪，包括X轴滑轨1，X轴滑轨1的一侧连接有零件放置台2， X轴滑轨1上设有X轴丝杠3，X轴丝杠3的两端通过轴承座12固定在X轴滑轨1上，X轴丝杠3的一端连接X轴步进电机4，X轴滑轨1左端从内至外依次设有X轴左接近开关5和X轴左行程开关6，X轴滑轨1右端从内至外依次设有X轴右接近开关7和X轴右行程开关8，X轴丝杠3上套有X轴滑块9，X轴滑块9能在X轴右接近开关7和X轴左接近开关5之间来回移动，X轴左行程开关6和X轴右行程开关8分别与X轴步进电机4电路连接；在X轴滑块9上设有纵向平行的Y轴丝杠10和Y轴滑轨11，Y轴丝杠10最好为滚珠丝杠，Y轴丝杠10的两端通过轴承座12固定在Y轴滑轨11上，Y轴丝杠10的顶端连接Y轴步进电机13，Y轴滑轨11上设置有Y轴滑块14，该Y轴滑块14套在Y轴丝杠10上，Y轴滑轨11的上端从上至下依次设有Y轴上行程开关15和Y轴上接近开关16， Y轴滑轨11的下端从上至下依次设有Y轴下接近开关17和Y轴下行程开关18，Y轴滑块14在Y轴上接近开关16和Y轴下接近开关17之间上下移动，Y轴上行程开关15和Y轴下行程开关18分别与Y轴步进电机13电路连接；在Y轴滑块14上设有开口向下的框架19，框架19上设有激光传感器20，框架19和零件放置台2位于X轴滑轨1的同一侧。